掃描物鏡可用三個(ge) 光學特性來表示,即相對孔徑、放大率和共軛距。放大率是 承接光學設計項目 掃描物鏡的一個(ge) 重要指標,由於(yu) 一般物體(ti) 大小是固定的,故放大率愈小,意味著鏡頭的像麵愈小,焦距也就愈短,相對來講掃描係統結構可以做的更小,但同時要求鏡頭的解像力也愈高。共軛距是指物像之間的長度,對鏡頭來講,一般希望其愈長愈好,共軛距愈短,意味著鏡頭愈難設計(視場角增大)。其原理圖同照相物鏡一樣,是一個(ge) 縮小的過程。 掃描物鏡的設計特點: 1.掃描物鏡屬於(yu) 小孔徑小象差係統,要求的光學解像力較高。
2.由於(yu) 光電器件的原因,不僅(jin) 要校正白光(混合光)的象差,同時需要考慮R、 G、B 三種獨立波長的象差。
3.嚴(yan) 格校正畸變象差。
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