Zee-scan 快速表麵測量儀(yi) 是整合了光源、物鏡以及掃描台的整體(ti) 式3D表麵測量儀(yi) 。Zee-scan 快速表麵測量儀(yi) -是高速測量設備，響應時間小於(yu) 5ms。

特點：
♦ 快速 & 精確的3D表麵測量
♦ 高分辨率數字顯微相機
♦ 處理速度快&高精度3D表麵平整度分析
♦ 多成像處理
♦ 采取最先進的圖像處理和波陣麵傳(chuan) 感.
 

軟件功能：
三維分析&測量——3D表麵形貌圖、表麵輪廓圖、台層高度測量、2D測量、粗糙度、波紋圖；數據采集&處理——自動標定、自動采集、自動處理、自動聚焦&曝光、範圍任選功能、導航功能；數據輸出&報告——項目報告歸檔與(yu) 編輯、3D數據Excel格式輸出、3D數據第三方軟件輸出、HTML格式。

快速3D表麵形貌測量	強大軟件處理功能

測量能力：
3D表麵形貌 表麵輪廓 粗糙度&波紋 台層高度
 

應用範圍：
膜層 太陽能矽片 紙張 高分子材料 砂輪 橡膠 金屬 探針劃痕 焊點

主要參數：

顯微鏡物鏡	5x	10x	20x	50x	63x	100x
最大Z軸範圍, μm	1000	230	60	9	6	2.3
最大(Z)軸分辨率,nm	800	200	50	8	5	2
響應時間,ms	<5 ms
兼容性	2/3”
顯微鏡接口	視頻口 (C‐安裝兼容)
軟件 & 硬件 需求	7, XP or Vista ‐ USB2.0 port
電源	110 / 220 AC
尺寸	H: 120 mm, Ø: 120 mm
重 量, g	345