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如何鑒別光學平台質量的優劣
隨著科學技術的發展，各項科學實驗的高、精、尖要求越來越高，各領域裏的實驗儀(yi) 器精度不斷攀高，所以同時要求實驗的環境越來越好。在傳(chuan) 統隔振基礎上麵，不斷細化，如今變成了一個(ge) 能...
2011-08-05 -
ZXHBB係列輕型光學平台介紹
ZXHBB係列輕型光學平台特點： 鐵磁不鏽鋼台麵，特殊的加工工藝保證更高的平麵度，散光效果好，不刺眼 可吸磁，配合磁力底座的使用可以在任意位置固定器件 表麵陣列M6螺紋孔，孔距25mm，方...
2011-08-03 -
Zygo 斐索幹涉儀
主要技術指標：可測元件口徑：Ф10～Ф300 標準鏡精度：PV /20 重複性：△PV0.020 功能/應用範圍：測量光學元件表麵麵形及透過波麵...
2011-07-29 -
VEECO Digital Instruments NanoMan
The NanoManTM is one of the most advanced and high-end scanning probe microscope (SPM) system commercially available for direct nanoscale manipulation and high-definition nanolithography, allowing accurate and controlled tip positio...
2011-07-29 -
TRIOPTICS Ultra Spherotronic
The Ultra-Spherotronic, the latest addition to our line of automatic spherometers, is the response to increased accuracy requirements in measurement of radii of curvature of optical components. The heart of the new spherometer is a ...
2011-07-29 -
J.A. Woollam M-2000型橢偏儀
極寬的光譜範圍，波長範圍從(cong) 193nm至1700nm 390-720個(ge) 波長同時測量 大範圍的測量角度，手動角45-90o，自動角40-90o，因此該橢偏儀(yi) 的 測量角度均可超過45 融合了該公司的專(zhuan) 利技術旋轉補償(chang) 技術，在...
2011-07-29 -
Zygo NewView5020 表麵輪廓儀
Technical Performance Vertical (Z) Scan Range: 5 mm Vertical (Z) Scan Rate: 10 mm/sec Vertical (Z) Resolution: 0.1 nm Lateral (X, Y) Resolution Range: 0.45 11.8 mm Field of View Range: 0.04 17.5 mm; larger areas can be imaged with f...
2011-07-29 -
PerKin Elmer Lambda 950 分光光度計
PERKIN ELMER公司在集多年先進經驗製造，代表了目前世界此類儀(yi) 器最高水平的雙光束、雙單色器係統比率式紫外/可見/近紅外分光光度計。 波長範圍：Lambda900為(wei) 1753300nm 分光係統采用最先進的CSS...
2011-07-29
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