隨著科學技術的發展，各項科學實驗的高、精、尖要求越來越高，各領域裏的實驗儀(yi) 器精度不斷攀高，所以同時要求實驗的環境越來越好。在傳(chuan) 統隔振基礎上麵，不斷細化，如今變成了一個(ge) 能夠針對各類實驗的高精度的工作平台，它充當起了一個(ge) 各項實驗的安靜的係統工程。可由於(yu) 我國的振動研究比較晚，大多數尖端儀(yi) 器依賴進口平台，所以目前我國秀多科研單位和大學實驗室都使用進口隔振產(chan) 品。然而通本公司近幾年的技術創新和市場營銷的努力，以優(you) 異的性價(jia) 比及優(you) 秀的售後服務為(wei) 切入口，逐步代替了進口，甚至出口國際市場，參與(yu) 國際競爭(zheng) 。

       光學平台外觀：光學平台外觀應美觀，各部位都應無影響安全的銳角及銳邊，更重要的是檢查孔口倒角是
否均勻一致（螺孔旋入後應垂直平台麵），四邊及其倒角是否平直一致。如果台麵未經過機械加工而是人工打磨
出來的孔口倒角是大小不一致的，沿台麵四周邊用目測即可看出台麵倒角處是彎曲的。

       光學平台固有頻率（≤2Hz）：固有頻率也稱自然頻率、自振頻率，隻有在環境擾動力頻率（f）與(yu) 光學平
台的固有頻率(fo)的比值f/fo＞√2 時係統才有隔振作用。所以光學平台的固有頻率越低，隔振效果效果就越好。
該指標的檢測一般采用振動頻譜分析儀(yi) 及便攜式振動分析儀(yi) 來進行多點測量，如供應商不具備儀(yi) 器測量（當然這
是很不正常的），您也可用以下方法：用手用力壓下（或側(ce) 推）平台，然後迅速鬆開，讓其大幅度上下振動（或
左右、前後擺動）起來，如一秒鍾內(nei) 往複一次即為(wei) 1Hz，二次即為(wei) 2Hz，依此類推。須可粗略測得光學平台的固
有頻率。
      光學平台平麵度（≤0.05 ㎜/㎡）：該指標越小即表明台麵越平整，調整光路就越容易。一般出廠要求平麵
度小於(yu) 0.05 ㎜/㎡，檢測方法一般有：光電自準直儀(yi) 法、光學平麵度檢查儀(yi) 檢測法、水平儀(yi) 檢測法、激光平麵度
檢測儀(yi) 等等。對安裝在實驗室的光學平台平麵度一般采用光電直準儀(yi) 和光學平直度檢查儀(yi) 檢測，經計算後得出。
這些儀(yi) 器也是生產(chan) 廠商應必須配置的。

      光學平台表麵密迪紋理及粗糙度（Ra≤0.8μm）：該指標的意義(yi) 在於(yu) 保證光學平台有一個(ge) 光滑但無反射的
工作表麵。良好的表麵粗糙度有利對實驗儀(yi) 器的保護，產(chan) 品出廠要求一般在Ra≤0.8μm 以下，粗糙度完成可采
用對比樣板目測和粗糙度儀(yi) 檢測，如果是現場檢測可采用粗糙度儀(yi) 完成。該儀(yi) 器具有便攜、可直讀數據、精度高
等優(you) 點。
      光學平台重複定位精度（±0.10 ㎜）：該指標意義(yi) 在於(yu) 保證工作台麵在動態條件下的水平，以方便使用者高
速光路，檢測方法是將百分表（精度0.02 ㎜）固定在穩固的物體(ti) 上，表頭頂住台麵，然後在工作台麵上反複加
載或卸載，待穩定後讀數在範圍正負0.10 ㎜以內(nei) 即為(wei) 合格。
      光學平台工作台麵的振幅（So≤2μm）：在正常的使用環境下，為(wei) 了保證儀(yi) 器的使用精度，光學平台必須
提供盡可能低的振幅。同時也可通過台麵和地麵振幅指標的對比，反映係統的隔振性能。如平台振幅小於(yu) 地麵振
幅，則平台是隔振的，反之則是不隔振或振動放大的。振幅指標的檢測，類同固有頻率檢測。