激光影像儀(yi) 是激光係統加到一般光學影像測量係統，可作二維、三維的測量係統。激光係統又有點激光、線激光等兩(liang) 種；影像測量係統為(wei) 將光學原理應用到測量上，光經光源發射經測量組件到圖像傳(chuan) 感器CCD或CMOS上，吾人能從(cong) 圖像上計算出尺寸大小，形成一光學影像測量係統。光源采用激光時，就形成一激光影像儀(yi) 。廣泛應用於(yu) 機械、電子、模具、精密五金、其它等行業(ye) ，對距離、形貌等測量。

　　什麽(me) 是CCD

　　電荷藕合器件圖像傳(chuan) 感器（Charge Coupled Device, CCD），它使用一種高感光度的半導體(ti) 材料製成，能把光線轉變成電荷，通過模數轉換器芯片轉換成數字信號，數字信號經過壓縮以後由相機內(nei) 部的閃速存儲(chu) 器或內(nei) 置硬盤卡保存，因而可以輕而易舉(ju) 地把數據傳(chuan) 輸給計算機，並借助於(yu) 計算機的處理手段，根據需要和想象來修改圖像。CCD由許多感光單位組成，通常以百萬(wan) 像素為(wei) 單位。當CCD表麵受到光線照射時，每個(ge) 感光單位會(hui) 將電荷反映在組件上，所有的感光單位所產(chan) 生的信號加在一起，就構成了一幅完整的畫麵。

　　什麽(me) 是CMOS

　　互補性氧化金屬半導體(ti) CMOS（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）和CCD一樣同為(wei) 在數碼相機中可記錄光線變化的半導體(ti) 。CMOS的製造技術和一般計算機芯片沒什麽(me) 差別，主要是利用矽和鍺這兩(liang) 種元素所做成的半導體(ti) ，使其在CMOS上共存著帶N（帶–電） 和 P（帶+電）級的半導體(ti) ，這兩(liang) 個(ge) 互補效應所產(chan) 生的電流即可被處理芯片紀錄和解讀成影像。然而，CMOS的缺點就是太容易出現雜點, 這主要是因為(wei) 早期的設計使CMOS在處理快速變化的影像時，由於(yu) 電流變化過於(yu) 頻繁而會(hui) 產(chan) 生過熱的現象。