12月8日消息，據“淩光紅外”公眾(zhong) 號發文，淩光紅外正式推出商用激光誘導電阻變化檢測設備（LaserSight係列），標誌著國產(chan) 電性失效分析設備在Thermal/EMMI/OBIRCH（TIVA）三大主流技術方向上實現全線貫通。

OBIRCH（激光誘導電阻變化技術），與(yu) 熱發射、光發射並列為(wei) 電性失效分析領域的三大標準定位方法。

該技術通過激光束掃描檢測因電阻變化反映的電路內(nei) 部缺陷，常用於(yu) 定位金屬互聯故障、短路等電性失效問題。

自1997年日本公司推出首台商用設備以來，OBIRCH技術及相關(guan) 設備長期被少數國外廠商壟斷。其中，日本H公司與(yu) 美國F公司占據超過80%的市場份額，使該設備成為(wei) 國內(nei) 半導體(ti) 分析領域典型的“卡脖子”環節。

此次淩光紅外發布的LaserSight係列，首次實現了國產(chan) 激光誘導電阻變化定位設備的自主供應。

截至2025年12月，該係列已完成多台交付並穩定運行，性能對標國際旗艦產(chan) 品。

LaserSight係列適用於(yu) 金屬互聯缺陷、金屬/半導體(ti) 短路等典型分析場景，可廣泛應用於(yu) 集成電路、功率器件及光電器件等領域的失效定位，為(wei) 國內(nei) 半導體(ti) 產(chan) 業(ye) 提供了又一關(guan) 鍵環節的國產(chan) 化檢測支持。