海洋光學(www.oceanopticschina.cn)的NanoCalc係統利用了光譜反射測量技術，為(wei) 半導體(ti) 、醫療和工業(ye) 環境領域的客戶光學薄膜厚度的精確測量。新款預配置NanoCalc係統麵向客戶及新型應用，適合深紫外到近紅外波段的檢測。

NanoCalc係統適用於(yu) 多種波長、多種采樣方式以及光學厚度（1.0nm-250μm）要求。用戶可以在4種標準型號中（涵蓋~200-1700nm）做出選擇，並且將它們(men) 與(yu) 軟件、反射探頭、光纖和各種附件整合到一起。對於(yu) 可見光譜（400-850nm）或者紫外可見光譜（250-1050nm）的應用，用戶可以通過選擇預配置的係統，使操作更加便利。這個(ge) 預配置的係統包括NanoCalc，反射探頭、樣品台、標準台階膜厚Si-SiO2晶片以及可以分析10層薄膜的軟件。

為(wei) 了滿足要求更高的應用環境，NanoCalc係統可以與(yu) 大量的擴展軟件、光纖以及諸如掃描平台、顯微鏡和微光斑聚焦裝置等測量附件一同使用。

在減反射硬質塗層、太陽能電池板上的非晶矽、OLED顯示麵板、光刻膠等膜厚測量領域， NanoCalc係統將發揮尤為(wei) 重要的作用。

客戶定製的NanoCalc係統還可以在現場、多點或者真空測量中實現附加的用戶控製。用戶可以自由選擇合適的光纖組件或者反射探頭。此外，用戶還可以通過其他軟件或者是利用軟件附加功能（包括遠程控製、在線控製、掃描以及多層測量）控製NanoCalc的功能。