近日，西安光機所新型幹涉光譜成像技術研究取得重大進展，研究團隊在國內(nei) 率先將離軸三反光學係統應用於(yu) 短波紅外幹涉光譜成像係統中，並成功研製了基於(yu) M-Z像麵幹涉光譜成像的離軸三反桌麵樣機係統。

　　麵向寬覆蓋、高分辨率、高光譜分辨率的要求，離軸三反加M-Z像麵幹涉光譜成像技術可以有效解決(jue) 大視場光學係統和大尺寸幹涉儀(yi) 的技術瓶頸。M-Z幹涉儀(yi) 放置在係統會(hui) 聚光路中，在減小係統體(ti) 積和重量的同時，能量利用率可以達到成像儀(yi) 的極限;離軸三反光學係統則能夠同時實現長焦距與(yu) 大視場，並且沒有中心遮攔，傳(chuan) 遞函數高。但在基於(yu) M-Z像麵幹涉的光譜成像係統中，離軸全反射係統難以補償(chang) 會(hui) 聚光路中M-Z幹涉儀(yi) 棱鏡元件所引入的像差，為(wei) 此，科研人員將校正補償(chang) 係統應用到離軸三反係統中，設計並成功研製了一種新型離軸三反成像光學係統，並針對離軸三反係統裝調自由度多，結構非對稱性以及離軸係統離軸量需要精確測量調整等問題，解決(jue) 了離軸非球麵微應力裝夾、多自由度調整結構形式、離軸三反係統高精度裝調等多項技術難點，為(wei) 高分辨率、高光譜分辨率光譜成像技術奠定了堅實基礎，並完成了必要的技術儲(chu) 備，使該先進光譜成像技術達到了國內(nei) 領先水平。