硬開關(guan) 是不管開關(guan) 管上的電壓或電流，強行接通或關(guan) 斷開關(guan) 管。當開關(guan) 管(漏極和源極之間，或者集電極和發射極之間)的電壓及電流較大時，切換開關(guan) 管，由於(yu) 開關(guan) 管狀態間的切換(由導通到截止，或由截止到導通)需要一定的時間，這樣就會(hui) 造成在開關(guan) 管狀態切換的某一段時間內(nei) ，電壓和電流有一個(ge) 交越區域，這個(ge) 交越造成的開關(guan) 管損耗（開關(guan) 管的切換損耗）隨開關(guan) 頻率的提高而急速增加。

開關(guan) 管的切換損耗與(yu) 開關(guan) 管的負載特性有關(guan) ：

       若是感性負載，在開關(guan) 晶體(ti) 管關(guan) 斷時會(hui) 感應出尖峰電壓。開關(guan) 頻率越高，關(guan) 斷越快，該感應電壓越高。此電壓加在開關(guan) 器件兩(liang) 端，容易造成器件擊穿。

       若是容性負載，在開關(guan) 晶體(ti) 管導通瞬間的尖峰電流大。因此，當開關(guan) 晶體(ti) 管在很高的電壓下接通時，儲(chu) 存在開關(guan) 晶體(ti) 管結電容中的能量將以電流形式全部耗散在該器件內(nei) 。頻率越高，開通電流尖峰越大，從(cong) 而會(hui) 引起開關(guan) 管的過熱損壞。

       另外，在次級高頻整流回路中的二極管，在由導通變為(wei) 截止時，有一個(ge) 反向恢複期，開關(guan) 晶體(ti) 管在此期間內(nei) 接通時，容易產(chan) 生很大的衝(chong) 擊電流。顯然頻率越高，該衝(chong) 擊電流也越大，對開關(guan) 晶體(ti) 管的安全運行造成危害。

       最後，做硬開關(guan) 運用的開關(guan) 電源中，開關(guan) 晶體(ti) 管會(hui) 產(chan) 生嚴(yan) 重的電磁騷擾。隨著頻率的提高和電路中的di/dt和du/dt增大，所產(chan) 生的電磁騷擾也在增大，影響開關(guan) 電源本身和周圍電子設備的正常工作。

       上述問題嚴(yan) 重阻礙了開關(guan) 器件（開關(guan) 晶體(ti) 管和高頻整流二極管）工作頻率的提高。近年來開展的軟開關(guan) 技術研究為(wei) 克服上述缺陷提供了一條有效的途徑。和硬開關(guan) 工作原理不同，理想的軟關(guan) 斷過程是電流先降小到零，電壓在緩慢上升到斷態值，所以關(guan) 斷損耗近似為(wei) 零。由於(yu) 器件關(guan) 斷前電流已經下降到零，便解決(jue) 了感性關(guan) 斷問題。理想的軟開通過程是電壓先降到零，電流在緩慢上升到通態值，所以開通損耗近似為(wei) 零，器件結電容的電壓也為(wei) 零，解決(jue) 了容性開通問題。同時，開通時，二極管反向恢複過程已經結束，因此二極管反向恢複問題不存在。

       軟開關(guan) 技術還有助於(yu) 電磁騷擾水平的降低，其原因是開關(guan) 晶體(ti) 管在零電壓的情況下導通和在零電流的情況下關(guan) 斷，同時快恢複二極管也是軟關(guan) 斷的，這可以明顯減小功率器件的di/dt和du/dt，從(cong) 而可以減小電磁幹擾的電平。 

       一般來說軟開關(guan) 的效率較高(因為(wei) 沒有切換損)；操作頻率較高，PFC或變壓器體(ti) 積可以減少，所以開關(guan) 電源的體(ti) 積可以做到更小。但成本也相對較高，設計較複雜。