2014年 5 月 30 日，北京――安捷倫(lun) 科技（NYSE：A）日前宣布推出最新強大的自動夾具移除（AFR）選件。該選件主要用於(yu) 旗下的 PNA 係列網絡分析儀(yi) 。早前，這項誤差校正技術僅(jin) 在安捷倫(lun) 物理層測試係統（PLTS）軟件中提供。自動夾具移除（AFR）選件能夠成就業(ye) 界最輕鬆、最快速的非同軸器件精確測量，幫助工程師減少時間和資金的投入。

    如今，許多器件都沒有同軸連接器，隻能通過夾具才能在同軸環境下進行測量。然而，要獲得完美的被測件測量結果，需要精確去除夾具效應。盡管可以通過 EM 電磁仿真軟件的建模，或者在基板上構建多個(ge) 校準標準件來表征和去除夾具效應，但這些方法非常繁雜而且耗時。

    安捷倫(lun) 最新的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、精確地去除非同軸器件測量環境中的夾具效應：工程師可以使用快捷的五步向導程序完成必要操作，然後將去嵌入文件保存為(wei) 多種格式，以便日後在 PNA、PLTS 和先進設計係統軟件中使用。

使用 AFR 選件時，工程師必須首先對夾具輸入端的參考麵進行同軸校準；然後再測量一個(ge) 或多個(ge) 標準件，將其作為(wei) 夾具的 2 端口直通通道，或者充當開路或短路的半端接夾具。如果隻使用單端口的 AFR，實施夾具去嵌入的過程可以更快。在被測件安裝之前先對實際夾具的測量作為(wei) 開路狀態, 之後，AFR 選件會(hui) 自動表征夾具，並將夾具效應從(cong) 測量結果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。

    安捷倫(lun) 元器件測試事業(ye) 部營銷經理 Steve Scheppelmann 表示：“最新 AFR 選件的精度可與(yu) 板上TRL校準相媲美，但實現起來更為(wei) 輕鬆。對於(yu) 不熟悉 AFR 的微波工程師，為(wei) 了精確地校正夾具效應，他們(men) 完全不必再去執行複雜的 EM 仿真或構建板上校準套件。而對於(yu) 熟練使用 AFR 的信號完整性工程師，他們(men) 也能受益於(yu) AFR 選件的單端口功能，從(cong) 而顯著節省測試時間。”