美國國家儀(yi) 器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發布NI PXIe-1066DC18槽機箱，增加了PXI Express平台高可用性 ，可最大限度地提高係統的正常運行時間。在眾(zhong) 多嚴(yan) 格任務級測試、測量和控製應用中，該新機箱的特性能夠縮短PXI係統的平均故障間隔時間 (MTBF)和平均維修時間(MTTR)。 全新機箱還添加了重要組件冗餘(yu) 和遠程監控功能， 著重提高現有的NI PXI儀(yi) 器的正常運行時間。

感言

“NI PXIe-1066DC機箱基於(yu) PXI標準的長期的領先優(you) 勢，實現嚴(yan) 格任務級的項目。該款全新機箱印證了NI作出的長期努力，致力於(yu) 提高係統的穩定性、可用性、操作性能和管理性能，使係統維持最長的正常運行時間。”

——Dr. Tom Bradicich

美國國家儀(yi) 器 研發人員，前IBM係統技術副總裁

產(chan) 品介紹

• 冗餘(yu) 、可熱插拔直流電源和風扇能使係統維持最長的正常運行時間

• 前端接入電源和風扇托盤為(wei) 受位置限製的應用帶來了靈活性

• 工程師通過以太網端口能夠進行遠程帶內(nei) 機箱健康監測，實現高級係統管理