素有科技產(chan) 業(ye) 奧斯卡之稱的全球百大科技研發獎（R&D 100 Awards）評選揭曉，台工研院以“線上即時熱能分析儀(yi) ”等兩(liang) 項創新研發科技獲獎，在國際舞台上大放異彩。

工研院徐爵民院長表示，“線上即時熱能分析儀(yi) ”有技術處大力支持，研究團隊開發出快速熱性能量測技術，而且可結合LED自動化機台在生產(chan) 線上即時量測，在速度、成本和精確度上協助LED廠商提升產(chan) 線良率，這項技術去年已技轉給旺矽科技，預計年底就要量產(chan) 上市。

0.3秒測LED熱阻即時監控散熱優(you) 劣

散熱性能一直是影響LED壽命與(yu) 光品質的重要因素，工研院率先開發可於(yu) 產(chan) 線即時量測LED熱阻的分析儀(yi) ，將可大幅降低LED照明產(chan) 品的不良率，讓消費者選購產(chan) 品更心安。工研院研發出的線上即時熱能分析儀(yi) （In-Line Compact Thermal Analyzer，ICTA），隻需3分鍾即可量測出完整的LED封裝元件熱結構，為(wei) 目前國際上效率最高的熱結構分析儀(yi) 。此技術並成功與(yu) LED自動化光電分類機台整合，研發出全球首套自動化LED熱阻測試設備，每小時量測速度可達1萬(wan) 2000顆元件，等於(yu) 每顆元件量測隻需0.3秒，比傳(chuan) 統一小時在實驗室隻能量測6顆元件，速度遠遠加快了2千倍。

目前已與(yu) LED設備廠旺矽科技合作，開發出全球首部結合暫態熱結構分析及線上熱阻量測功能的分析儀(yi) ，預估此設備今年底將進入商品化階段，可同時滿足研發及量產(chan) 驗證需求，提供產(chan) 線進行即時監控、不良品篩檢、製程優(you) 化、提升良率，大幅降低LED照明產(chan) 品的不良率，讓消費者購買(mai) LED產(chan) 品更有保障。

工研院電子與(yu) 光電研究所劉軍(jun) 廷所長表示，LED是未來的主要照明光源，但內(nei) 部各層材料介麵的熱阻問題依舊是LED發展的重要課題之一。事實上，隻要能掌握LED熱阻數據，就能推估產(chan) 品的壽命、效率、及光品質。傳(chuan) 統上測量LED熱阻時，步驟繁複且耗時耗力，因此隻能在產(chan) 品設計階段時在實驗室進行量測。工研院所研發的熱能分析儀(yi) 不僅(jin) 可層層分析元件熱結構，更可在生產(chan) 線上即時測量，透過解析LED散熱能力關(guan) 鍵的固晶層，讓所有LED產(chan) 品的散熱優(you) 劣無所遁形。對於(yu) 每年全球超過一千億(yi) 顆的LED總生產(chan) 量，是非常有利的工具，不但提升效能、改善良率，更可以提高自動化生產(chan) 的程度，對LED產(chan) 業(ye) 含照明應用以及麵板應用意義(yi) 重大。