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工業製造

激光技術在半導體晶圓劃片工藝中的應用

來源:中國電子科技集團公司第十三研究所2024-01-12 我要評論(0 )   

劃片是將半導體(ti) 晶圓分割成單個(ge) 芯片的過程,一般在晶圓已完成前道工藝製程和電性能測試的基礎上進行。同時作為(wei) 半導體(ti) 封裝的首步工序,劃片質量將直接影響封裝成品的最終...

劃片是將半導體(ti) 晶圓分割成單個(ge) 芯片的過程,一般在晶圓已完成前道工藝製程和電性能測試的基礎上進行。同時作為(wei) 半導體(ti) 封裝的首步工序,劃片質量將直接影響封裝成品的最終可靠性。砂輪切割是目前應用最為(wei) 廣泛的一種劃片方式,采用金剛石顆粒和粘合劑組成的刀片,經主軸聯動高速旋轉,與(yu) 被加工材料相互磨削,並以一定速度進給,將晶圓逐刀分割成獨立芯片。在工藝過程因殘餘(yu) 應力和機械損傷(shang) 導致的崩裂等缺陷,是製約砂輪劃片發展的主要問題。

隨著半導體(ti) 集成電路飛速發展對劃片效率和質量的新要求,該切割技術已結合不同加工材料的特點,從(cong) 劃片刀選取、工藝參數優(you) 化以及劃片方式改進等方麵著手,有了一定的發展。麵對器件多樣化的發展趨勢,特別是在超薄晶圓以及含有可動結構的 MEMS 晶圓等非接觸劃片的發展需求,砂輪劃片已無法完全滿足。激光切割可有效避免砂輪崩裂問題,同時在小尺寸及 MEMS 芯片方麵,凸顯出愈發重要的優(you) 勢,本文將主要對目前主要應用的激光隱形切割和激光燒蝕切割兩(liang) 種劃片方式展開討論。

激光隱形切割技術

隱形切割技術是將半透明波長的激光束通過光學聚焦透鏡聚焦於(yu) 晶圓內(nei) 部,在晶圓內(nei) 部形成分割用的起點,即改質層,再對晶圓施加外力將其分割成獨立芯片的技術。因此,隱形切割技術一般包括激光切割和芯片分離兩(liang) 個(ge) 過程。激光切割過程,是根據加工材料的不同,選擇相應波長激光經由特定光路,聚焦於(yu) 晶圓內(nei) 部形成改質層,該改質層在形成的同時,會(hui) 形成指向晶圓正反兩(liang) 個(ge) 表麵延伸的龜裂。對一定厚度的晶圓,需激光以不同焦深多次聚焦於(yu) 晶圓內(nei) 部進行掃描,使改質層間相互連接,最終形成適合分割的整體(ti) 改質層,這是促使芯片分離的重要步驟。

芯片分離,是在改質層形成的基礎上,通過外力如劈刀施壓,或是直接通過擴裂方式,使改質層貫穿於(yu) 晶圓表麵和底麵,進而分離成獨立芯片的過程。

激光燒蝕切割技術

激光燒蝕切割是利用高能脈衝(chong) 激光,經光學係統準直和聚焦後,形成能量密度高,束斑尺寸隻有微米級的激光束,作用於(yu) 工件表麵,使被照射區域局部熔化、氣化,從(cong) 而使劃片間道材料去除,最終實現開槽或直接劃透。

激光燒蝕切割以高溫為(wei) 作用機理,在燒蝕邊緣會(hui) 形成被加工材料頻繁重鑄等現象的熱影響區域,如何控製熱影響區大小,是實現激光劃片在半導體(ti) 行業(ye) 發展的主要途徑。根據所加工材料對不同波長激光的吸收特性,選擇配置相應的激光器和光學係統。其中,脈衝(chong) 寬度是影響切割質量的重要參數,實指每一個(ge) 激光單脈衝(chong) 的持續時間,在功率和頻率一致的情況下,脈衝(chong) 寬度越小,激光與(yu) 加工材料的作用時間越短,熱影響區越小,可降低燒蝕過程對邊緣的不利影響。此外,激光器的選取還需兼顧效率和質量,一般激光波長越短,加工熱影響區越小,但激光速度偏慢,效率偏低。

目前應用半導體(ti) 晶圓切割的兩(liang) 類主要激光切割技術,即激光隱形切割和激光燒蝕切割。兩(liang) 種技術各具特點,均展現出傳(chuan) 統砂輪劃片所無法比擬的優(you) 勢。隨著激光技術的不斷發展和相關(guan) 設備的成熟完善,激光切割將在半導體(ti) 晶圓切割領域占據更具主導的地位。

來源:中國電子科技集團公司第十三研究所


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