日前，中國科學院上海光學精密機械研究所發文稱，中科院量子光學重點實驗室研究了背景光、光源的調製深度和調製時長對啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像質量的影響，通過實驗證明了－30dB輻照信噪比的條件下，啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像係統仍可取得高質量圖像。此外，高的調製深度和長的調製時長均對外差關(guan) 聯成像質量有益。相關(guan) 論文發表在Opt． Express 28， 20808－20816 （2020）。

激光關(guan) 聯成像雷達作為(wei) 一種新的成像雷達體(ti) 製引起了廣泛關(guan) 注，先後提出了窄脈衝(chong) 激光關(guan) 聯成像雷達、外差探測激光關(guan) 聯成像雷達和相幹探測激光關(guan) 聯成像雷達。目前窄脈衝(chong) 激光關(guan) 聯成像雷達研究較多且比較成熟；為(wei) 了提升係統的抗幹擾能力和綜合性能，近年來開展了外差探測激光關(guan) 聯成像雷達和相幹探測激光關(guan) 聯成像雷達相關(guan) 的理論和數值模擬研究，然而一直缺乏實驗驗證。

研究團隊搭建了一套啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像雷達實驗係統；分析了真實場景中背景光的統計特性，在啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像雷達實驗係統的基礎上搭建了一套與(yu) 實際應用相符合的背景光模擬實驗係統，用於(yu) 模擬背景光對雷達係統成像質量影響的定量測試和驗證。對於(yu) 窄脈衝(chong) 激光關(guan) 聯成像雷達而言，為(wei) 了得到較好的成像質量，往往要求回波信號光強要遠遠強於(yu) 背景光強。研究團隊給出了輻照信噪比、光源的調製深度和調製時長與(yu) 啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像雷達成像信噪比的理論關(guan) 係，通過實驗證明了啁啾調幅外差探測激光關(guan) 聯成像雷達在輻照信噪比為(wei) －30dB的條件下人可以獲取高質量圖像，驗證了該成像技術具備強的抗背景光能力，同時實驗驗證了光源的調製深度和調製時長與(yu) 成像質量的關(guan) 係，與(yu) 理論分析結果基本一致，該工作對於(yu) 複雜環境下的高分辨成像與(yu) 識別應用有重要意義(yi) 。

相關(guan) 研究得到了國防基礎科研計劃和中國科學院青年創新促進會(hui) 優(you) 秀會(hui) 員基金的支持。

圖1  啁啾調幅外差關(guan) 聯成像實驗係統

圖2  背景光對啁啾調幅外差關(guan) 聯成像的影響