激光誘導損傷(shang) 閾值（laser-induced damage threshold，LIDT）定義(yi) 為(wei) ：推測的光學器件損傷(shang) 概率為(wei) 零的最高激光輻射量。LIDT為(wei) 避免光學元件/器件在正常使用時受到損傷(shang) 提供參考。實際測量的LIDT數據隻能作為(wei) 同批次產(chan) 品的參考，不能認為(wei) 低於(yu) 此值絕對不會(hui) 發生光學器件損傷(shang) 。樣品的測試點數量、樣品數量和光束直徑都是影響測試結果的重要因素。通常脈衝(chong) 光源以J/cm2為(wei) 單位，連續光源以W/cm2或W/cm（也稱為(wei) 平均線功率密度）為(wei) 單位。

　　高功率應用領域常見的強度分布主要包括Gaussian和Top-hat光強度分布，激光光束強度指的是單位麵積的光功率。Top-hat光在光束橫截麵上的光強分布是相對均勻的，而Gaussian光是橫向電場以及輻照度分布近似滿足高斯函數的光束，其強度分布類似高斯函數。Gaussian光束的最大能量密度約為(wei) 具有相同光功率的Top-hat光束的兩(liang) 倍，如圖1所示。

　　圖1.相同功率Gaussian與(yu) Top-hat光的比較。

　　關(guan) 於(yu) 連續波激光光源

　　關(guan) 於(yu) CW LIDT需要了解激光器的波長、光束直徑和強度分布（Gaussian或Top-hat）。關(guan) 於(yu) CW LIDT的計算主要有兩(liang) 種：一種為(wei) 單位麵積的光功率（W/cm2），另一種為(wei) 平均線功率密度（W/cm）。

　　假設使用一台60 mW, 532 nm 的Nd:YAG激光器，光斑直徑為(wei) 2 mm，則其平均功率密度為(wei) ：

　　由圖1可知，Gaussian光束最大功率密度約為(wei) 均勻光束平均功率密度的兩(liang) 倍，所以其最大平均功率密度約為(wei) ：3.82 W/cm2。

　　同樣條件下其平均線功率密度為(wei) ：

　　由圖1可知，Gaussian光束最大功率密度約為(wei) 均勻光束平均功率密度的兩(liang) 倍，所以其最大線功率密度約為(wei) ：0.6 W/cm。

　　關(guan) 於(yu) 脈衝(chong) 激光光源

　　關(guan) 於(yu) 脈衝(chong) 激光光源LIDT需要了解激光器的波長、光束直徑、重複頻率、脈衝(chong) 寬度和強度分布（Gaussian或Top-hat）。脈衝(chong) 激光光源的LIDT一般以J/cm2為(wei) 單位。

　　假設使用一台高功率固體(ti) 脈衝(chong) 激光器，其波長1064 nm，單脈衝(chong) 能量為(wei) 1 J，重複頻率50 Hz，光斑直徑為(wei) 2 cm，則其單脈衝(chong) 平均能量密度為(wei) ：

　　由圖1可知，Gaussian光束最大功率密度約為(wei) 均勻光束平均功率密度的兩(liang) 倍，所以其最大單脈衝(chong) 能量密度為(wei) ：0.64J/cm2。

　　有些情況下需要對功率和能量單位之間進行換算（1W=1J/s），假設高功率固體(ti) 脈衝(chong) 激光器波長1064 nm，平均功率為(wei) 50W，重複頻率50 Hz，光斑直徑為(wei) 2 cm，其單脈衝(chong) 能量為(wei) ：

　　常見的光學元件損傷(shang) 原因

　　光學元件類產(chan) 品種類龐大複雜，對於(yu) LIDT的分析可以把光學元件大致分為(wei) 如下三類：鍍膜類；基片類；膠合類。激光器對光學元件的損傷(shang) 一般是對鍍膜、光學元件基底和膠合光學元件的膠合劑的損傷(shang) 。

　　膠合類透鏡CW LIDT較低，例如LBTEK提供的400 nm-700 nm消色差雙膠合透鏡的CW LIDT在1.02 kW/cm(波長532 nm，光斑直徑1.0 mm)，而同樣工作波長下的平凸、雙凸透鏡紫外熔融石英透鏡的CW LIDT最高可達2.33 kW/cm(波長532 nm，光斑直徑1.0 mm)。

　　高功率應用場景中，光學元件損傷(shang) 的原因往往是具有多樣性的。典型的激光損傷(shang) 光學元件的類型包括：熱損傷(shang) ；介質擊穿；光學元件表麵缺陷局域光場增強損傷(shang) 等。在一般的實驗過程中，除了光學元件本身LIDT不能承受入射光能量外，光學元件表麵潔淨度不夠（灰塵或其他物質附著）也是導致光學元件損傷(shang) 的重要原因。