發展到今天，傳(chuan) 統的模擬示波器已經漸漸淡出了人們(men) 的視野，數字示波器幾乎已經取代模擬示波器成為(wei) 硬件工程師手中電路調試的最常用的一種儀(yi) 器設備了。你是否覺得示波器提供給了被測信號的所有信息呢？事實上，示波器在大部分時間都處在一個(ge) 無法檢測信號的無信號狀態，通常把這段丟(diu) 失信號的時間稱為(wei) 死區時間。

什麽(me) 是死區時間

要想了解死區時間的來源，需要先對數字示波器的結構有一個(ge) 基本的了解。數字示波器的典型組成框圖如圖1、圖2所示。

圖1：傳(chuan) 統數字示波器組成框圖。

圖2：R&S公司RTO係列示波器組成框圖。

被測信號通過輸入通道進入示波器，並通過垂直係統中的衰減器和放大器加以調節。模數轉換器(ADC)按照固定的時間間隔對信號進行采樣，並將各個(ge) 信號振幅轉換成離散的數字值，稱為(wei) “樣本點”。采集模塊隨後則執行處理功能，例如樣本抽取，默認一般都為(wei) 采樣模式。輸出數據作為(wei) 樣本點(samples)存儲(chu) 在采集存儲(chu) 器中。存儲(chu) 的樣點數目用戶可以通過記錄長度進行設置。

根據用戶的需求，還可以對這些樣本點進一步後處理。後處理任務包括算數功能(例如求平均值)、數學運算(例如FIR濾波)、自動測量(例如上升時間或下降時間)以及分析功能(例如直方圖或模板測試)。其他後處理例如還包括協議解碼、抖動分析和矢量信號分析等等。

對於(yu) 數字示波器而言，基本上對波形樣本執行的處理步驟沒有任何限製。這些後處理功能或者使用軟件通過該儀(yi) 器的主處理程序執行，或者使用專(zhuan) 用的ASIC或FPGA硬件執行，具體(ti) 取決(jue) 於(yu) 示波器的結構。最終結果隨後通過示波器的顯示屏呈現給用戶。

從(cong) 圖1和圖2中可以看到R&S RTO係列示波器和傳(chuan) 統數字示波器的在信號處理過程上的區別，它使用了專(zhuan) 門獨立開發的ASIC芯片RTC和FPGA來實現波形樣本的後處理，如通道校準、樣本抽取、數字濾波、math、直方圖測量、模板測試以及FFT、自動測量、協議解碼等等，大大降低了主處理器的工作負荷，同時在RTO芯片中用數字觸發取代了模擬觸發電路，消除了模擬觸發電路帶來的觸發抖動，傳(chuan) 統的中高端示波器為(wei) 了減小這部分抖動，需要大量的DSP後處理。硬件結構上的創新，極大的縮短了RTO示波器波形樣本後處理所耗費的時間。

示波器從(cong) 信號采樣捕獲到波形樣本的處理顯示這一周期，稱為(wei) 捕獲周期，在前一個(ge) 捕獲周期結束後，示波器才能夠捕獲下一個(ge) 新波形。所以，數字示波器將捕獲周期的大部分時間都用於(yu) 對波形樣本的後處理上，在這一處理過程中，示波器就處於(yu) 無信號狀態，無法繼續監測被測信號。從(cong) 根本上來說，死區時間就是數字示波器對波形樣本後處理所需要的時間。

死區時間和捕獲周期及波形捕獲率關(guan) 係

圖3顯示了一個(ge) 波形捕獲周期的示意圖。捕獲周期由有效捕獲時間和死區時間周期組成。在有效捕獲時間內(nei) ，示波器按照用戶設定波形樣本數進行捕獲，並將其寫(xie) 入采集存儲(chu) 器中。捕獲的死區時間包含固定時間和可變時間兩(liang) 部分。固定時間具體(ti) 取決(jue) 於(yu) 各個(ge) 儀(yi) 器的架構本身。可變時間則取決(jue) 於(yu) 處理所需的時間，它與(yu) 設定的捕獲樣本數(記錄長度)、水平刻度、采樣率以及所選後處理功能(例如，插值、數學函數、測量和分析)多少都有直接關(guan) 係。死區時間和捕獲周期之比死區時間比也是示波器的一個(ge) 重要特性，捕獲周期的倒數就是波形捕獲率。

圖3：數字示波器的一個(ge) 捕獲周期。

例如，如果有效捕獲時間是100ns(樣本數為(wei) 1k，采樣率為(wei) 10G)，而死區時間是10ms，那麽(me) 整個(ge) 捕獲周期所用的時間是10.0001ms。由此得到的死區時間比是99.999%，而波形捕獲率是每秒不到100個(ge) 波形。目前市場上大部分示波器在常規測量模式下麵的波形捕獲率都在幾百次的量級，R&S公司最新的RTO係列示波器在同等條件下可以實現最高1,000,000次的波形捕獲率，死區時間比可以降低到90%一下，遠遠要高出其他示波器。有些帶寬≤1G的示波器在其最高采樣率下，可以達到50,000次/秒的波形捕獲率，其死區時間比也高達99.5%以上。

死區時間和波形捕獲率對測量結果的影響

很多工程師在硬件調試過程中可能遇會(hui) 到過這樣的情形：在調試的後期階段，電路板主要器件的焊接基本完成，在進行功能驗證過程中，發現係統一運行沒多久就會(hui) 出故障，但是通過示波器查看關(guan) 鍵的時鍾和使能信號都“沒有問題”，最終將故障原因定為(wei) 在軟件原因，然後逐行檢查代碼，進行軟件優(you) 化。現在已經對示波器的死區時間已經有了清晰的認識，對於(yu) 上麵的情形還有一種可能就是示波器漏掉了導致係統故障的偶發信號，圖4可以很形象的說明這一問題：

圖4：示波器死區時間導致丟(diu) 失關(guan) 鍵偶發信號。

由於(yu) 示波器死區時間的存在，導致示波器可能漏掉關(guan) 鍵的異常信號，而給用戶顯示一個(ge) 帶有欺騙性的結果，最終誤導用戶的判斷，會(hui) 大大延長調試時間，降低調試效率。

根據公式1，如果波形捕獲時間(即，樣本數×分辨率，或10×水平刻度)、波形捕獲率和信號事件發生速率(例如脈衝(chong) 幹擾的重複速率)均已確定，那麽(me) 增加測量時間，會(hui) 加大捕獲並顯示信號事件的概率：

公式 1：

P：捕獲偶發重複信號事件的概率[單位是%]

GlitchRate：信號故障頻率(例如，重複脈衝(chong) 幹擾)[單位是1/s]

T：有效捕獲時間或波形顯示時間(記錄長度/采樣速率，或記錄長度×分辨率，或10×時間量程/格)[單位是s]

AcqRate：波形捕獲率[單位是wfms/s]

Tmeasure：測量時間[單位是s]

如果知道概率，對公式1進行變換，可以計算捕獲該偶發信號所需時間：

公式2：

假定某個(ge) 信號帶一個(ge) 有每秒重複10次的異常。該信號本身以數據形式顯示在示波器上，所采用的水平刻度為(wei) 10ns/p。如果所用顯示屏有10個(ge) 水平格，則可以計算100ns的有效捕獲時間。為(wei) 了確保捕獲所需信號事件的置信度較高，需要使用99.9%的概率。現在，所需的測試時間取決(jue) 於(yu) 示波器的波形捕獲率。下表統計了幾種不同的波形捕獲率所對應的所需測試時間。#p#分頁標題#e#

表1：在概率為(wei) 99.9%(T=100ns，GlitchRate=10/s)的條件下，捕獲重複異常信號所需時間。

雖然R&S的RTO係列示波器在該條件下的死區時間比還有接近90%左右，但是相比於(yu) 其他死去時間比在99.5%以上的示波器，其發現偶發異常信號能力確是成數量級的上升，可以幫助工程師極大的提高調試效率。試問：有幾位工程師在檢查每一個(ge) 信號時可以在示波器上看超過7秒鍾時間呢？

前麵也提到，波形捕獲率和水平刻度、記錄長度、采樣率的設置都有關(guan) 係，在實際測量中，如何根據實際的被測信號在這些參數設置中找到一個(ge) 平衡點，以最高的捕獲概率查看波形，提高調試效率，這是工程師在數字示波器使用過程中需要考慮的問題，這一部分會(hui) 在以後文章中專(zhuan) 門討論。