將光纖Bragg光柵的耦合係數k代入式(19),得最大中心反射率
Rmax=tanh2(πδnL/λB) (20)
(19)式表明反射率是常量為(wei) (|k|L)的雙曲正切函數的平方。由式(16)可知,光纖Bragg光柵可作為(wei) 選頻反射器,其反射率和帶寬由δn和L決(jue) 定,根據反射率R的大小有強弱光柵之分。隻要光柵足夠長,總可以使反射率R=1。當不滿足相位匹配條件時,反射率會(hui) 顯著變小。在光纖Bragg光柵反射濾波器中往往取正反向波傳(chuan) 輸常數相等,則由相位匹配條件可將式(4)寫(xie) 為(wei)
光纖Bragg光柵可以將正向傳(chuan) 輸的模式向反向傳(chuan) 輸模式耦合,兩(liang) 模式必須滿足相位匹配條件
βi-βr=2π/Λ (22)
將模有效折射率
則得其Bragg反射峰值波長λB與(yu) 光纖Bragg光柵周期Λ的關(guan) 係為(wei)
上式為(wei) Bragg反射條件。可見,改變光柵周期Λ和有效折射率neff均可以改變Bragg波長。對兩(liang) 個(ge) 參量之一進行調製就可製成Bragg光柵。
反射譜由兩(liang) 個(ge) 重要的參數決(jue) 定:Bragg光柵帶寬Δλ和峰值反射率R。這些參數是光柵長度L、折射率調製深度δn和Bragg波長λB的函數。Bragg波長反射峰值帶寬(FWHM)可寫(xie) 為(wei) [7]
其中,νB為(wei) Bragg頻率。N為(wei) 光柵麵個(ge) 數(即光柵周期數),對反射率接近100%強反射光柵S≈1,而弱反射率光柵S≈1.5。由此可見,一個(ge) 光纖折射率周期性變化的光柵可以反射以Bragg波長λB為(wei) 中心帶寬Δλ以內(nei) 的一切波長。這裏引用近似帶寬[4]Δβ=4|k|,簡單的計算可得
對強光柵,即調製度δn 較大的情況下是一種較好的近似。
等間隔周期光柵具有接近於(yu) 1 的峰值反射率以及極窄的反射半寬。由上式可知,R和Δλ主要決(jue) 定於(yu) 光柵長度L和折射率變化量δn,L受製作工藝影響一般不超過
表征光纖Bragg光柵性能的主要指標為(wei) :(1) 中心波長反射率R;(2)反射帶的半寬度;(3)光柵邊帶的抑製;(4)插入損耗。影響這些性能的因素很多,如剩餘(yu) 包層b越小,光柵刻的越深,則反射率越大;但隨著剩餘(yu) 包層的減小,光纖Bragg光柵損耗增加。隨著光柵深度增加,光纖Bragg光柵線寬加大。因此,同時得到高反射率和窄線寬的光纖Bragg光柵是很困難的,應以設法增加刻蝕光柵長度的方法來獲得高反射率的光纖Bragg光柵,並合理設計各結構參數,達到最優(you) 化設計。
3 光纖Bragg光柵製作實驗及結果
3.1 實驗裝置與(yu) 方法
本文采用的相位掩模法[8,9,10]是製作光纖Bragg光柵的主要方法。根據菲涅耳近場分布計算可知,準相幹光經過具有一定空間周期分布的位相光柵後可形成0級與(yu) ±1級等高階衍射。利用其中的任意兩(liang) 束都可以在光柵後表麵附近的近場範圍內(nei) 形成幹涉條紋。相位掩模法利用特殊的位相掩模(即相位光柵)結合不同入射角選擇,抑製其中較強且又不需要的衍射束,留下兩(liang) 個(ge) 等強度的較強衍射束,可獲得對比度較高的幹涉條紋。其主要方法有兩(liang) 種,一種是激光垂直掩模板方向,此時0級衍射被抑製,±1級衍射相等,其能量可達37%以上;另一種方式是激光以與(yu) 掩模板法向間夾角θ入射,此時0級透射光束與(yu) +1級衍射束光強相等, 通過掩模板的兩(liang) 束光在菲涅爾近場區發生幹涉,產(chan) 生的幹涉條紋周期為(wei) 掩模板周期的一半。
這種方法所製備的光纖光柵的Bragg波長與(yu) 光源的波長無關(guan) 。相位掩模光柵衍射圖樣的周期不依賴於(yu) 入射光波長,與(yu) 輻照的角度無關(guan) ,隻與(yu) 相位光柵的周期Λ有關(guan) 。對於(yu) 光纖與(yu) 掩模之間的校準狀況不敏感,對光路穩定性要求也較低,對輻照光源的瞬間相幹性要求也較為(wei) 放鬆。總之,相位掩模法工藝穩定、易於(yu) 準直、重複性好,大大簡化了光纖Bragg光柵製造係統,提高了成柵的效率,提高了光柵的質量。適於(yu) 大批量生產(chan) 光纖Bragg光柵。
本實驗是在德國LAMBDA PHYSIK公司生產(chan) 的COMPex 150T KrF準分子激光器上進行的,該激光器具有高輸出功率(~20W),高脈衝(chong) 能量(~450mJ),窄線寬(<3pm),發散角小(<0.2mrad)以及高時空相幹性等特點。
采用相位掩模法製作折射率周期分布的Bragg光柵的實驗裝置圖如圖3所示。實驗裝置製作部分由準分子激光器、準直係統、柱狀透鏡和振幅掩模板組成。為(wei) 了進一步提高光的空間相幹性,在光纖束後加了準直係統。光束經過準直後,由全反射鏡反射經柱形透鏡聚焦,用來進一步調解曝光能量密度,後通過相位版照射到實驗用的光纖上。
KrF準分子激光器的輸出波長為(wei) 248nm,光斑的麵積為(wei) 10×
光纖Bragg光柵利用相位掩模板在氫載的普通光纖上製作而成。Bragg中心波長位於(yu) 1550nm。實驗所用的光纖是普通商用的9μm芯徑的單模通信光纖。為(wei) 提高其紫外光敏性,實驗前采用載氫增敏的方法[11,12]。在室溫、1.52×104Pa氫氣中處理了約7周。結果表明, 經過這樣長時間的載氫處理,纖芯中的氫溶解度已達到其飽和值,處理後的光纖在96hr內(nei) 有足夠的光敏性。
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