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測試測量

NXP 使用安捷倫電子測試產品在消費類電子產品展覽會上進行WiGig RFIC 演示

激光製造商情 來源:安捷倫(lun) 2012-02-02 我要評論(0 )   

2012 年 1 月18日,北京――安捷倫(lun) 科技公司(NYSE:A)日前宣布旗下電子測試設備被NXP Semiconductors N.V.(恩智浦)選中,於(yu) 1 月10-13日在美國拉斯維加斯舉(ju) 行的國際...

2012 年 1 月18日,北京――安捷倫(lun) 科技公司(NYSE:A)日前宣布旗下電子測試設備被NXP Semiconductors N.V.(恩智浦)選中,於(yu) 1 月10-13日在美國拉斯維加斯舉(ju) 行的國際消費類電子產(chan) 品展覽會(hui) 上演示其適用於(yu) 新一代通信和雷達產(chan) 品的波束賦形技術。NXP 將演示以無線吉比特聯盟和 IEEE 802.11ad 標準為(wei) 基礎的多Gbps 無線鏈路。
    NXP 演示將包括安捷倫(lun) 的設備――安捷倫(lun) 是唯一為(wei) WiGig和 IEEE 802.11ad 物理層標準提供信號生成與(yu) 調製分析軟件和硬件的貿易供應商。該測試設備將在拉斯維加斯的演示中提供信號生成和分析功能,以補充 NXP 的 RFIC 芯片組。
    NXP 的接收機前端是一個(ge) 配有 8 條天線和 8 個(ge) RX 路徑的相控陣係統。該天線陣列能夠在低成本層壓板上實施,有源電路可以通過 CMOS 45 nm 技術來實現。較之單個(ge) 天線係統,電子波束賦形將鏈路距離增加了大約三倍,而且同時提供寬角掃描。
    NXP 技術支持高度集成的低功率、波束賦形和波束控製係統,以提高WiGig/802.11ad 空間覆蓋範圍。新一代汽車雷達係統還將利用這些核心開發,將 CMOS 相控陣毫米波電路和 IF、ADC 和 DSP 模塊綜合到高度集成的低功率汽車雷達信號處理器中。
    安捷倫(lun) 電子測量事業(ye) 部總裁 Guy Séné表示:“非常高興(xing) 能夠提供測試硬件和軟件功能,支持 NXP 進行核心技術演示。我們(men) 對安捷倫(lun) 針對這一技術的早期投資和不斷努力感到高興(xing) ,而且WiGig聯盟允許整個(ge) 行業(ye) 通過安捷倫(lun) 在寬帶寬調製、分析和毫米應用中的卓越功能,在 60 GHz 頻段內(nei) 更快地設計和開發產(chan) 品。”

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