泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 邏輯協議分析儀(yi) 模塊新增了軟件功能，支持下一代PCIe規範，即PCI Express 3.0規範。新的功能包括創新的鳥瞰圖（BEV），幫助工程師洞察和分析複雜的流控製問題，並且隻需一鍵式校準和自動配置，從(cong) 而使PCIe係統調試和分析變得更迅速，更容易。

PCIe 3.0規範支持兩(liang) 倍於(yu) 上代規範的數據率和更高的I/O帶寬，給物理層和協議層帶來了新的複雜性和測試挑戰。而且，PCIe適用於(yu) 廣泛的應用，這給測試儀(yi) 器跟蹤動態鏈路寬度變化、動態速度變化、通道（lane）排序、極性變化和多個(ge) 省電模式等特征帶來了壓力。憑借這些新功能，泰克邏輯協議分析儀(yi) 有助於(yu) 工程師與(yu) PCIe 3.0規範保持與(yu) 時俱進，並高效地將產(chan) 品推向市場。

泰克公司數字分析產(chan) 品線總監Dave Farrell表示：“新版本的PCIe邏輯協議分析儀(yi) 軟件，向客戶提供了市場上獨有的強大工具來隔離和調試PCIe流控製問題，並加快可執行信息的存取速度。泰克邏輯協議分析儀(yi) 為(wei) 調試和驗證工程師提供了智能的分析功能。”

新功能包括：
• 鳥瞰圖（BEV）提供全新的信息可視化方式，以便快速分析PCI Express流控製問題，這些問題可能是最具挑戰性的一些調試問題。在這之前，協議工具隻能提供已解碼分組數據的視圖。事務窗口（Transaction Window）是泰克邏輯協議分析儀(yi) 上的一個(ge) 創新窗口，提供數據包和事務層麵（間或有物理層活動）的協議行為(wei) 視圖。鳥瞰圖是泰克公司的一個(ge) 創新，其完全集成於(yu) 事務窗口之內(nei) ，提供整個(ge) 采集的高級視圖。當在鳥瞰圖窗口中看到潛在問題時，用戶可使用鳥瞰圖快速導航至可疑數據，並通過查看事務窗口中的對應數據，立即識別和隔離導致問題的根本事件。這項全新的分析功能在業(ye) 內(nei) 沒有競爭(zheng) 對手可以與(yu) 之相比。
• 一鍵式校準結合使用邏輯協議分析儀(yi) 的采集硬件和觸發功能來全麵測試數以百計甚至數以千計可能的儀(yi) 器設置，來自動確定最佳設置，確保儀(yi) 器采集數據時沒有比特錯誤。
• PCIe“個(ge) 性化”（Personalization）功能有助於(yu) 用戶縮短設置時間並迅速開始調試他們(men) 的設計。該軟件會(hui) 自動檢測TLA7SAxx模塊，並彈出PCI Express協議分析儀(yi) 設置屏幕，並開始“自動配置”過程。配置完成後，用戶即可開始采集數據和查看“列表”和“事務”窗口（在采集期間自動打開）中的信息。PCIe“個(ge) 性化”可確保軟件在正確的時間顯示正確的信息，以便在建立測試係統的數分鍾內(nei) 快速實現采集數據的可視化。
• 自動配置功能根據PCIe鏈路特征自動配置邏輯協議分析儀(yi) 的工作參數，如鏈路速度、通道排序和通道極性。設置窗口與(yu) 校準細節表相結合，以近實時方式提供有關(guan) 被測係統工作條件的關(guan) 鍵指標，這些信息可在單一、易於(yu) 使用的屏幕中查看，甚至在完成采集之前。
 
Visual Network Systems的主管工程師William Winston提前使用了這個(ge) 新解決(jue) 方案來協助他應對係統調試挑戰：“我能非常迅速地將我的係統連接至泰克邏輯協議分析儀(yi) ，並開始進行有意義(yi) 的測試。在較短的時間內(nei) ，我就能夠識別我的係統中的問題，而且更重要的是能夠排除其他潛在問題。”

推出於(yu) 2010年4月，並獲得2011年《測試與(yu) 測量世界》“最佳測試產(chan) 品獎”（Best in Test Award）的TLA7SAxx模塊為(wei) PCI Express 1.0/2.0/3.0規範提供了全麵的測試解決(jue) 方案。有了這些新特點，用戶現在能夠使用TLA7SAxx模塊上的增強型PCIe調試和驗證功能。該解決(jue) 方案包括8或16通道邏輯協議分析儀(yi) 模塊、總線支持軟件、插槽界接探測器（Slot Interposer）、Midbus 探頭以及專(zhuan) 用solder-down探頭，為(wei) PCIe開發者提供關(guan) 於(yu) 係統行為(wei) 的強大時間相關(guan) 視圖，從(cong) 協議分析開始一直到物理層，以幫助查找棘手問題的根本原因。

上市時間
TLA7SA08和TLA7SA16邏輯協議分析儀(yi) 模塊及支持軟件現已麵向全球發售。