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測試測量

單片機硬件參數設計解析(一)

星之球激光 來源:電子發燒友2012-05-29 我要評論(0 )   

引 言 隨著 單片機 的頻率和集成度、單位麵積的 功率 及 數字信號 速度的不斷提高,而信號的幅度卻不斷降低,原先設計好的、使用很穩定的單片機係統,現在可能出現莫名...

引 言

 

  隨著單片機的頻率和集成度、單位麵積的功率數字信號速度的不斷提高,而信號的幅度卻不斷降低,原先設計好的、使用很穩定的單片機係統,現在可能出現莫名其妙的錯誤,分析原因,又找不出問題所在。另外,由於(yu) 市場的需求,產(chan) 品需要采用高速單片機來實現,設計人員如何快速掌握高速設計呢?

  硬件設計包括邏輯設計和可靠性的設計。邏輯設計實現功能。硬件設計工程師可以直接通過驗證功能是否實現,來判定是否滿足需求。這方麵的資料相當多,這裏就不敘述了。硬件可靠性設計,主要表現在電氣、熱等關(guan) 鍵參數上。我將這些歸納為(wei) 特性阻抗、SI、PI、EMC、熱設計等5個(ge) 部分。

 

  1 特性阻抗

 

  近年來,在數字信號速度日漸增快的情況下,在印製板的布線時,還應考慮電磁波和有關(guan) 方波傳(chuan) 播的問題。這樣,原來簡單的導線,逐漸轉變成高頻與(yu) 高速類的複雜傳(chuan) 輸線了。

  在高頻情況下,印製板(PCB)上傳(chuan) 輸信號的銅導線可被視為(wei) 由一連串等效電阻及一並聯電感所組合而成的傳(chuan) 導線路,如圖1所示。隻考慮雜散分布的串聯電感和並聯電容的效應,會(hui) 得到以下公式:

  式中Z0即特性阻抗,單位為(wei) Ω。

  PCB的特性阻抗Z0與(yu) PCB設計中布局和走線方式密切相關(guan) 。影響PCB走線特性阻抗的因素主要有:銅線的寬度和厚度、介質的介電常數和厚度、焊盤的厚度、地線的路徑、周邊的走線等。

  在PCB的特性阻抗設計中,微帶線結構是最受歡迎的,因而得到最廣泛的推廣與(yu) 應用。最常使用的微帶線結構有4種:表麵微帶線(surface microstrip)、嵌入式微帶線(embedded microstrip)、帶狀線(stripline)、雙帶線(dual-stripline)。下麵隻說明表麵微帶線結構,其它幾種可參考相關(guan) 資料。表麵微帶線模型結構如圖2所示。

  Z0的計算公式如下:

  對於(yu) 差分信號,其特性阻抗Zdiff修正公式如下:

  公式中:

  ——PCB基材的介電常數;

  b——PCB傳(chuan) 輸導線線寬;

  d1——PCB傳(chuan) 輸導線線厚;

  d2——PCB介質層厚度;

  D——差分線對線邊沿之間的線距。

  從(cong) 公式中可以看出,特性阻抗主要由、b、d1、d2決(jue) 定。通過控製以上4個(ge) 參數,可以得到相應的特性阻抗。

 

  2 信號完整性(SI)

 

  SI是指信號在電路中以正確的時序和電壓作出響應的能力。如果電路中的信號能夠以要求的時序、持續時間和電壓幅度到達IC,則該電路具有較好的信號完整性。反之,當信號不能正常響應時,就出現了信號完整性問題。從(cong) 廣義(yi) 上講,信號完整性問題主要表現為(wei) 5個(ge) 方麵:延遲、反射、串擾、同步切換噪聲和電磁兼容性。

  延遲是指信號在PCB板的導線上以有限的速度傳(chuan) 輸,信號從(cong) 發送端發出到達接收端,其間存在一個(ge) 傳(chuan) 輸延遲。信號的延遲會(hui) 對係統的時序產(chan) 生影響。在高速數字係統中,傳(chuan) 輸延遲主要取決(jue) 於(yu) 導線的長度和導線周圍介質的介電常數。

  當PCB板上導線(高速數字係統中稱為(wei) 傳(chuan) 輸線)的特征阻抗與(yu) 負載阻抗不匹配時,信號到達接收端後有一部分能量將沿著傳(chuan) 輸線反射回去,使信號波形發生畸變,甚至出現信號的過衝(chong) 和下衝(chong) 。如果信號在傳(chuan) 輸線上來回反射,就會(hui) 產(chan) 生振鈴和環繞振蕩。

  由於(yu) PCB板上的任何兩(liang) 個(ge) 器件或導線之間都存在互容和互感,因此,當一個(ge) 器件或一根導線上的信號發生變化時,其變化會(hui) 通過互容和互感影響其它器件或導線,即串擾。串擾的強度取決(jue) 於(yu) 器件及導線的幾何尺寸和相互距離。

  信號質量表現為(wei) 幾個(ge) 方麵。對於(yu) 大家熟知的頻率、周期、占空比、過衝(chong) 、振鈴、上升時間、下降時間等,在此就不作詳細介紹了。下麵主要介紹幾個(ge) 重要概念。

  ①高電平時間(high time),指在一個(ge) 正脈衝(chong) 中高於(yu) Vih_min部分的時間。

  ②低電平時間(low time),指在一個(ge) 負脈衝(chong) 中低於(yu) Vil_max部分的時間,如圖3所示。

  ③建立時間(setup time),指一個(ge) 輸入信號(input signal)在參考信號(reference signal)到達指定的轉換前必須保持穩定的最短時間。

  ④保持時間(hold time),是數據在參考引腳經過指定的轉換後,必須穩定的最短時間,如圖4所示。

  ⑤建立時間裕量(setup argin),指所設計係統的建立時間與(yu) 接收端芯片所要求的最小建立時間的差值。

  ⑥保持時間裕量(hold argin),指所設計係統的保持時間與(yu) 接收端芯片所要求的最小保持時間之間的差值。

  ⑦時鍾偏移(clock skew),指不同的接收設備接收到同一時鍾驅動輸出之間的時間差。

  ⑧Tco(time clock to output,時鍾延遲),是一個(ge) 定義(yi) 包括一切設備延遲的參數,即Tco=內(nei) 部邏輯延遲 (internal logic delay) + 緩衝(chong) 器延遲(buffer delay)。

  ⑨最大經曆時間(Tflightmax),即final switch delay,指在上升沿,到達高閾值電壓的時間,並保持高電平之上,減去驅動所需的緩衝(chong) 延遲。

  ⑩最小經曆時間(Tflightmin),即first settle delay,指在上升沿,到達低閾值電壓的時間,減去驅動所需的緩衝(chong) 延遲。

  時鍾抖動(clock jitter),是由每個(ge) 時鍾周期之間不穩定性抖動而引起的。一般由於(yu) PLL在時鍾驅動時的不穩定性引起,同時,時鍾抖動引起了有效時鍾周期的減小。

  串擾(crosstalk)。鄰近的兩(liang) 根信號線,當其中的一根信號線上的電流變化時(稱為(wei) aggressor,攻擊者),由於(yu) 感應電流的影響,另外一根信號線上的電流也將引起變化(稱為(wei) victim,受害者)。

  SI是個(ge) 係統問題,必須用係統觀點來看。以下是將問題的分解。

  ◆ 傳(chuan) 輸線效應分析:阻抗、損耗、回流……

  ◆ 反射分析:過衝(chong) 、振鈴……

  ◆ 時序分析:延時、抖動、SKEW……

  ◆ 串擾分析

  ◆ 噪聲分析:SSN、地彈、電源下陷……

  ◆ PI設計:確定如何選擇電容、電容如何放置、PCB合適疊層方式……

  ◆ PCB、器件的寄生參數影響分析

  ◆ 端接技術等

      

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