三，產(chan) 品的幾個(ge) 關(guan) 鍵考驗點：

　　激光粒度儀(yi) 有幾個(ge) 關(guan) 鍵考驗點

　　(1)激光器選擇：激光粒度儀(yi) 的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導體(ti) 激光器兩(liang) 種，其中HE-NE激光器的各項性能均優(you) 於(yu) 半導體(ti) 激光器，且本錢也遠高於(yu) 半導體(ti) 激光器，半導體(ti) 激光器單向性差的題目，對測試結果的穩定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。

　　(2)光電探測器：國內(nei) 產(chan) 品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環式、點陣式等，半環式的上風是能夠以較少的通道數達到很高的探測精度。而且在出現斷環時可以臨(lin) 時采取並環操縱，對測試結果影響很小。點陣式屬於(yu) 比較老的探測器類型，現在用的比較少。

　　(3)儀(yi) 器結構題目：主要分為(wei) 整體(ti) 式和分體(ti) 式，整體(ti) 式就是將分散係統和測試係統整合為(wei) 一體(ti) ，協同操縱，分體(ti) 式則是分散係統獨立於(yu) 測試係統，測試者需要先操縱分散係統，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導進測試係統進行測試。這樣的缺點是協同操縱性不好，比較重的顆粒輕易在管道中沉澱，清洗不便且對測試結果有一定影響，現在整體(ti) 式結構的儀(yi) 器是發展方向，進口產(chan) 品大都采用整體(ti) 式結構，國內(nei) 的產(chan) 品也慢慢在向整體(ti) 式結構發展。

　　(4)光路設計題目：光路設計是激光粒度儀(yi) 研製的基礎，進口產(chan) 品的上風不但在製造工藝上，光路的設計水平也是技術先進的標誌，國內(nei) 的廠家現在大都采用簡單的平行光路設計，據了解濟南微納公司推出的產(chan) 品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進的光路，能夠獲得更寬的散射角，在進步測試精度方麵有一定的上風。

    四，需要了解的顆粒測試基礎知識

　　實際測試中，正確性是相對的，重複性是盡對的：在實際顆粒測試中，激光粒度儀(yi) 測試的結果我們(men) 無法評價(jia) 其“正確”或“不正確”，由於(yu) 樣品都是不規則外形體(ti) ，與(yu) 其對比的測試結果也隻是另外一種儀(yi) 器測試所得，因此，我們(men) 隻能說A儀(yi) 器的測試結果相對於(yu) B儀(yi) 器來說是正確的，而不能說A儀(yi) 器測試結果就是正確或不正確，很多測試職員總是喜歡與(yu) 馬爾文的來對比，隻要符合就是正確，不符合就是不正確，這實在是個(ge) 誤區。考量儀(yi) 器好壞的標準實在是重複性，對某一種樣品分別取樣測試，假如前一次和後一次測試結果差異小那說明儀(yi) 器是穩定的，重複性好的，假如差異大那就說明這個(ge) 儀(yi) 器的測試效果不好。

　　五，實地測試

　　最好在選擇前寄送樣品實地測試，由於(yu) 樣品的屬性千差萬(wan) 別，有的儀(yi) 器並非全能，對某些樣品可能偏差比較大。