2012 年 9 月 13 日，北京 —安捷倫(lun) 科技公司（紐約股票市場代碼：A）與(yu) 工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)成功簽署了關(guan) 於(yu) 對TD-LTE多天線OTA性能測試進行合作研究的備忘錄。工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)隸屬於(yu) 工業(ye) 和信息化部，在國內(nei) 負責製定國家公共計量標準以及相關(guan) 電信行業(ye) 標準。工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)同時也積極參加國際標準組織並參與(yu) 國際標準的製定工作。TD-LTE多天線OTA性能測試標準是工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)積極推動和製定的標準之一。

     安捷倫(lun) 和工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)的此次戰略合作通過雙方的優(you) 勢互補致力於(yu) 加速TD-LTE多天線OTA性能測試的標準化進程。作為(wei) 一家業(ye) 界領先的測試儀(yi) 表廠商，安捷倫(lun) 在無線測試係統，多天線OTA性能測試係統，以及多天線OTA性能仿真等方麵有著長期的積累和獨到的優(you) 勢。作為(wei) 國內(nei) 權威的標準製定機構以及天線性能測試認證機構，工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)在通信領域標準化、OTA性能的測試標準研究以及OTA性能的認證測試方麵有著長期的積累和獨到的優(you) 勢。

     通過此次合作，雙方的研究人員將在工業(ye) 和信息化部電信研究院(通信計量中心)的天線測試實驗室基於(yu) 安捷倫(lun) 的儀(yi) 器搭建兩(liang) 階段法的多天線OTA測試係統並使用兩(liang) 階段法進行多天線OTA性能的測試研究。工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)將和安捷倫(lun) 實驗室的研究人員共享暗室的測試設施和專(zhuan) 業(ye) 知識來開展多天線OTA性能測試的合作研究。雙方的合作將給安捷倫(lun) 實驗室的研究人員提供設施和環境，進一步促進多天線OTA測試技術和方法的研究和開發。

     雙方將在工業(ye) 和信息化部電信研究院(通信計量中心)的天線測試實驗室進行多天線OTA測試的研究並將研究成果輸出到多天線OTA性能測試的標準化組織，例如國際標準組3GPP、北美行業(ye) 協會(hui) CTIA和中國通信標準化協會(hui) CCSA。工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)和安捷倫(lun) 也會(hui) 把研究成果總結後共同發表到國際會(hui) 議，期刊和行業(ye) 組織的刊物上。

     安捷倫(lun) 和工業(ye) 和信息化部電信研究院 (通信計量中心)在TD-LTE多天線空口性能測試方麵的研究合作也表明了安捷倫(lun) 對於(yu) 推動TD-LTE技術在中國以及全球市場成功的重要承諾。