2014年 4月9日，北京――日前，由IEEE MTT-S（IEEE微波理論與(yu) 技術分會(hui) ）和中國電子學會(hui) 微波分會(hui) 聯合舉(ju) 辦的第二屆“國際無線會(hui) 議”（IEEE IWS2014）在西安綠地筆克國際會(hui) 展中心順利落幕。作為(wei) 全球最大的測試測量公司，安捷倫(lun) 科技（NYSE：A）是本次會(hui) 議的白金讚助商，攜手合作夥(huo) 伴準備了5大展台，展出了最新的測試測量解決(jue) 方案，陝西省副省長李金柱出席了此次展覽，並參觀了安捷倫(lun) 展台。展會(hui) 同期，安捷倫(lun) 還舉(ju) 辦了“有源微波器件進階測試技術講座”和“航空航天和國防電子測量技術講座”，共吸引了近350人與(yu) 會(hui) 。

    安捷倫(lun) 科技本次展出涵蓋了毫米波/T赫茲(zi) 、雷達和電子戰、複雜信號產(chan) 生與(yu) 分析、4G無線通信、進階微波器件測試、高速數字電路分析等內(nei) 容，更是首次在國內(nei) 展示了325GHz高精度頻譜儀(yi) 和信號源等樣機和係統方案，為(wei) 客戶和業(ye) 內(nei) 專(zhuan) 家展示了安捷倫(lun) 領先的射頻微波測試方案。

陝西副省長李金柱參觀安捷倫(lun) 展台

研討會(hui) 現場

演示安捷倫(lun) 解決(jue) 方案

    展覽同期，為(wei) 了幫助國內(nei) 客戶深入了解微波器件特別是放大器、變頻器等有源器件的測試技術，安捷倫(lun) 舉(ju) 辦了“有源微波器件進階測試技術講座”。安捷倫(lun) 元件測試集團首席科學家Joel Dunsmore 結合現場實物測試演示，為(wei) 專(zhuan) 業(ye) 客戶進行了4小時的有源器件測試技術剖析，深入講解了測量評估放大器和混頻器等複雜有源微波源器件的最新技術、有效提高校準精度和測試效率的方法、夾具內(nei) 測試精度優(you) 化技術以及大功率測試的優(you) 化方法等。

    而同期舉(ju) 辦的“航空航天和國防電子測量研討會(hui) ”則與(yu) 國內(nei) 用戶一起分享了目前的熱點題目，內(nei) 容涵蓋了國防電子、雷達和電子戰、微波和通信領域等共計10多個(ge) 前沿課題。翔實的內(nei) 容，專(zhuan) 業(ye) 的聽眾(zhong) ，深度的交流，為(wei) 國內(nei) 專(zhuan) 業(ye) 人士和國際頂級專(zhuan) 家之間以及國內(nei) 專(zhuan) 業(ye) 人士之間搭建了良好的學術和產(chan) 業(ye) 交流機會(hui) 。

    對於(yu) 未能及時參加此次盛會(hui) 的觀眾(zhong) ，也可登陸安捷倫(lun) 網上測試測量大會(hui) 的在線平台，安捷倫(lun) 精挑細選了眾(zhong) 多熱門應用講座及相關(guan) 產(chan) 品應用視頻，讓用戶可以隨時隨處了解安捷倫(lun) 更多產(chan) 品及解決(jue) 方案。