2014年4月22日，北京――安捷倫(lun) 科技公司（NYSE：A）日前宣布，旗下最新款 PXI 功能測試係統、邊界掃描分析儀(yi) 以及最新在線測試係統將亮相 NEPCON 中國電子展（NEPCON EMT China 2014）。本屆展會(hui) 將於(yu) 4 月 23 日至 25 日在上海世博展覽館舉(ju) 行，安捷倫(lun) 在 1G60 號展位。

     安捷倫(lun) 專(zhuan) 家將展示：

    • 新型 Agilent TS-8989A，業(ye) 內(nei) 唯一一款經濟高效、完全集成、擁有大電流開關(guan) 的PXI功能測試係統，適用於(yu) 汽車電子功能測試。

    • 功能強大的 TS-5400 PXI 係列功能測試係統，可以為(wei) 汽車、航空航天與(yu) 國防以及工業(ye) 控製製造商提供現成可用的 PXI 硬件和軟件平台，並且支持單一或多個(ge) 被測器件測試。

    • 多功能 x1149 台式邊界掃描分析儀(yi) ，榮獲 EDN 雜誌“2014 年最佳測試獎”。x1149 提供快速測試周轉速度和廣泛的測試功能，可涵蓋從(cong) 設計與(yu) 驗證到新產(chan) 品引進與(yu) 批量生產(chan) 的各個(ge) 階段。x1149 演示還包括固態硬盤測試和 Intel Silicon View 技術。

    • 低成本 Medalist i1000D ICT，市場上體(ti) 積最小的在線測試係統，配有電路板自動裝載設備，可自動對智能手機、LED 以及汽車保險絲(si) 盒等器件執行製造測試。i1000D 提供數字測試、邊界掃描和串行編程功能。

    • 完全集成的 Medalist i3070 係列 5 在線測試係統，使用短線夾具，憑借出色的測試移植性和可重複性而倍受客戶青睞。該款屢獲殊榮的套件產(chan) 品支持受限接入測試和 LED 測試，並配有簡單易用的界麵。

    • Agilent i1000D 診斷測試儀(yi) ，一款定製模塊化 ICT 儀(yi) 器，適用於(yu) 研發、維護和並行功能測試，能夠加快原型啟動速度並提供精確的維修診斷。