安捷倫(lun) 和 Cascade Microtech 宣布合作以提高晶片級測量效率

    統一的、獨特的晶片級直流和射頻測量解決(jue) 方案增強了客戶的測量信心

    2014年 6 月 11 日，北京――安捷倫(lun) 科技公司（NYSE：A）和 Cascade Microtech（NASDAQ：CSCD）日前宣布雙方結成戰略合作關(guan) 係，旨在為(wei) 客戶提供經過全麵配置和驗證的射頻測量解決(jue) 方案，該解決(jue) 方案不僅(jin) 能夠簡化晶片級半導體(ti) 測量，而且還能提供有保障的配置、安裝及支持。

    安捷倫(lun) 副總裁兼元器件測試事業(ye) 部總經理 Gregg Peters 表示：“安捷倫(lun) 和 Cascade Microtech 作為(wei) 測試測量行業(ye) 和晶圓上探測領域的全球領導者，它們(men) 擁有精深的專(zhuan) 業(ye) 技術和豐(feng) 富的產(chan) 品生產(chan) 線，可以提供用於(yu) 晶片級器件測試的全部構建模塊。通過協同的資源和方案，我們(men) 麵向雙方共同的半導體(ti) 客戶首次推出了獨特的不同以往的晶片級測量解決(jue) 方案。”

    從(cong) 測量配置到精確驗證

    晶片級射頻測量係統的選定和配置是一項費時費力的工作，客戶通常需要對多個(ge) 供應商提供的測試設備進行現場配置與(yu) 驗證，並且必須為(wei) 初次測量預留更久的設置時間。借助安捷倫(lun) 與(yu) Cascade Microtech聯合推出的晶片級測量解決(jue) 方案（WMS），半導體(ti) 客戶現在能夠使用適當的設備執行精確、可重複的直流和射頻測量以及器件表征和建模，以便顯著縮短初次測量設置時間。

    Cascade Microtech 總裁兼首席運營官 Michael Burger 表示：“半導體(ti) 製程的開發、建模和表征任務日趨複雜化，而產(chan) 品上市周期卻在不斷縮減，客戶對測量精度的要求也越來越嚴(yan) 苛。我們(men) 攜手安捷倫(lun) 開發了值得信賴的晶片級測量解決(jue) 方案，幫助工程師對半導體(ti) 元件和器件執行精確、快速的高級直流和射頻測量，以確保他們(men) 及時推出高質量的產(chan) 品。”

    最新的晶片級測量解決(jue) 方案整合了 Cascade Microtech 的晶圓探針台、探針和校準工具以及安捷倫(lun) 測試儀(yi) 器和測量分析軟件，將會(hui) 為(wei) 半導體(ti) 測試帶來深遠影響。每種解決(jue) 方案配置在出廠前均已通過預先驗證，以滿足客戶的特定應用需求，在 Cascade Microtech 解決(jue) 方案專(zhuan) 家安裝完畢後，可根據之前商定的驗收標準再次驗證配置。安捷倫(lun) 或 Cascade Microtech 承諾免費填補解決(jue) 方案缺失的任何部件，以確保客戶享受有保障的配置。

    另外，在 Agilent WaferPro-XP 測量軟件的基礎上，安捷倫(lun) 和 Cascade Microtech 共同開發了獨特的工作流程解決(jue) 方案軟件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探針台軟件，客戶現在可以開發出適合多種測量需求的全麵晶圓測試套件（例如，S 參數、DC-IV/CV、噪聲係數、閃變噪聲和增益壓縮）。這種組合軟件為(wei) 測試開發提供了相幹環境。

    每個(ge) 晶片級測量解決(jue) 方案均配有完善的支持套件，並且允許客戶聯係經驗豐(feng) 富的區域解決(jue) 方案專(zhuan) 家以索取晶圓上測試測量技巧。Cascade Microtech 提供單點聯係方式，幫助客戶迅速解決(jue) 問題。

    定價(jia) 及上市信息

    安捷倫(lun) 和 Cascade Microtech 共同研發的晶片級射頻測量解決(jue) 方案現在提供多種配置選擇，從(cong) 采用半自動或手動探針台的新的高度集成解決(jue) 方案、到在現有的探針台上進行特定應用硬件升級。新型 Agilent WaferPro-XP 測量軟件平台適用於(yu) 研發器件表征，可與(yu) 現有的晶片級測量解決(jue) 方案配合使用。定價(jia) 取決(jue) 於(yu) 客戶所選擇的解決(jue) 方案配置。如欲了解特定定價(jia) 和銷售信息，請聯係您當地的安捷倫(lun) 現場工程師或 Cascade Microtech 銷售經理。