2.2 LED光色參數隨溫度變化曲線的測量

　　封裝LED的光色參數一般是在PN結為(wei) 25±1℃的條件下給出的，而在實際工作中，結溫通常高於(yu) 25℃，其光色性能會(hui) 發生較大變化，這也給封裝LED的應用帶來困擾。因此，有必要監測LED的光色參數隨結溫變化的情況，如圖3所示。光色參數隨PN結溫度變化曲線的測量與(yu) K係數的測量方法類似。

　　而考察環境溫度（參考點溫度）對LED的光色參數的影響則更為(wei) 直觀，對LED的應用更具指導意義(yi) 。該測量可在下述的加速老練和壽命試驗箱中進行。

　　3　LED壽命測試

　　3.1  LED的加速老練和壽命測試  

　　與(yu) 傳(chuan) 統照明產(chan) 品不同，LED產(chan) 品的壽命終了主要表現為(wei) 光衰到一定程度，如衰減到50%或70%流明維持率，即L50或L70。現有的國際標準或國家標準中除了對壽命時間提出要求外，一般還要求燃點3000h時光通維持率應不低於(yu) 92%，在燃點6000h時其光通維持率應不低於(yu) 88%；也有標準根據6000h時的光通維持率對LED進行等級分類。美國標準LM-80-08主要針對封裝LED及LED模塊的光通維持壽命測量，它提出了在三個(ge) 外殼溫度下測量LED的光通維持率，分別為(wei) ：85ºC ，55ºC 和製造商選擇的溫度，在高溫下老練LED，主要是為(wei) 了模擬被測LED的實際工作環境。老練測試時間為(wei) 6000小時，可根據測試的數據進行外推計算獲取LED的壽命時間。如圖4所示為(wei) 壽命推算曲線：

　　LED的壽命很長，額定條件下的老練壽命測試極為(wei) 耗時。除了上述的根據初期光通維持率變化外推出L50或L70壽命時間的外推法之外，還可以使用加速老練壽命試驗的解決(jue) 方案，即在不改變LED失效機理的前提下，加大應力條件來加快LED的衰減速度，從(cong) 而減少壽命試驗的時間[2-3]。目前加速壽命試驗可分為(wei) 增大測試電流和提高環境溫度兩(liang) 種加速方法，以電流加速試驗為(wei) 主。加速老練獲取的壽命值可根據阿侖(lun) 尼斯（Arrhenius）模型計算出額定條件下LED的期望壽命。