我們(men) 曾對采用四個(ge) 2400的測試係統的測試速度、小電流和小電壓測量精度，在一係列不同的測量時間間隔條件下（即不同的NPLC設定參數）進行過特征化測試。NPLC參數與(yu) 測試時間間隔有如下關(guan) 係式：

測試時間間隔（秒）= 1/60（NPLC參數）

圖1表示了2400型源表NPLC值從(cong) 0.01到1.0時，在10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A量程內(nei) 的低電流測量性能。測試電流的大小接近每個(ge) 量程的最大值，而每個(ge) 測量點則代表100次測量的標準差。測試結果表明，對於(yu) 每一個(ge) 很短的積分(integration)時間，即 < 0.1 NPLC，在10-2A、10-3A和10-4A量程下，電流測量的標準差小於(yu) 滿量程的0.005%，而在10-5A和10-6A量程下小於(yu) 0.08%。在10-5A和10-6A量程下以最高測試速度測量時，±3σ的測試可重複性達到了< 2nA。圖2表示了一個(ge) 以四個(ge) 2400構建的測試係統的測試吞吐率的測量結果（該結果表示為(wei) NPLC設定值的函數）。

圖1. 2400源表的電流測量值的標準差與(yu) NPLC的關(guan) 係曲線，其中的測試量程為(wei) 10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A。

當用於(yu) 單個(ge) 像素的開路、短路測量時，2400被配置成一個(ge) 電流源，然後進行電壓測量。PC機通過電流源輸出值和電壓測量值計算出電阻。這一技術直接使用了2400進行電阻測量，從(cong) 而縮短了與(yu) 電阻測量有關(guan) 的測量時間。測量精度接近或小於(yu) 0.2%，而這一性能水平對於(yu) “合格或不合格”的測試是足夠了。它的測試吞吐率為(wei) 漏電流測試速度的百分之幾。

圖2. 采用四個(ge) 2400的OLED特征化係統的測試吞吐率

在對電纜、掃描卡和夾具的設計中使用保護，可大大降低漏電流，而且能夠為(wei) 基於(yu) 6517A型靜電計和7158、7058型掃描卡的係統，實現低電流的測量提供支持。加保護的信號通路縮短了與(yu) 低電流測量所需的較長穩定時間，這進而又縮短了測試時間。即使采用了保護電路，6517A的測量速度仍比不上2400，所以它的吞吐率將會(hui) 低一些。

可以采用四個(ge) 6517A和低電流掃描卡組成的係統進行一次性能研究，但由於(yu) 測試夾具和電纜走線對測試係統有很大的影響而使此項研究未能實現。這些部件通常是客戶提供的，而漏電流的大小可以有非常大的變化範圍，這就影響到了低電流性能和測試穩定時間。