5月5日至7日，由我校物理科學與(yu) 工程學院和漢諾威激光中心激光元件研發部門聯合舉(ju) 辦的“光學元件精密表征”中德雙邊高級研討會(hui) 在德一對一撲克分析儀(yi) 國漢諾威召開。來自中德雙方這一領域的數十名專(zhuan) 家參加了會(hui) 議。中德科學中心副主任趙妙根教授和德國漢諾威戈特弗裏德威廉萊布尼茨大學校長Erich  Barke致開幕詞。會(hui) 議得到了中德科學中心的全額資助。

　　會(hui) 上，中德專(zhuan) 家在ISO國際標準、損傷(shang) 閾值測試、光學損耗等激光元件精密表征等方麵作了精彩報告並進行了充分討論。我校物理科學與(yu) 工程學院王占山教授認為(wei) 此次研討會(hui) 進一步加強了學術研究和市場需求之間的聯係，將會(hui) 有效地推動高端激光元件和激光技術在商業(ye) 中的應用。漢諾威激光中心激光元件研發部門Ristau教授表示此次研討會(hui) 為(wei) 中德雙方科學家的交流創造了一個(ge) 理想的條件，對雙方在這一領域的發展狀態和相互感興(xing) 趣的問題有了深入和一對一撲克分析儀(yi) 全麵的了解，為(wei) 後一對一撲克分析儀(yi) 續的合作奠定了良好的基礎。