
全文速覽
采用電子束選區熔化(EBSM)工藝,通過精細的工藝控製,實現了選晶法製備不同尺寸IN738合金單晶體(ti) ,其中14 mm×14 mm×95 mm樣塊為(wei) 當前增材製造選晶法製備的最大尺寸單晶體(ti) 。所製備單晶體(ti) 的枝晶寬度約為(wei) 15 μm,遠小於(yu) 鑄造工藝製備單晶體(ti) 。15度以上大角度晶界的選晶高度約為(wei) 7.5 mm,2度以下小角度晶界的選晶高度約為(wei) 7.5 mm。
背景介紹
鎳基高溫合金單晶是航空發動機渦輪葉片的關(guan) 鍵材料,傳(chuan) 統製備工藝是鑄造,需要通過螺旋選晶法或者籽晶法製備。螺旋選晶法在螺旋選晶段完成選晶過程,所選出的單晶與(yu) 001方向存在夾角,籽晶法需要在單晶種子基礎上生長,長出的單晶與(yu) 單晶種子取向一致。近年來,為(wei) 實現短周期、結構複雜、降低成本等目標,采用增材製造製備難焊鎳基高溫合金成為(wei) 熱點。直接能量沉積工藝(DED)基於(yu) 單晶葉片修複的背景,最先實現增材製造單晶層的修複。DED製備單晶理論和籽晶法類似,需要依賴單晶基板,並在單晶基板上外延生長單晶體(ti) ,用於(yu) 製備小尺寸單晶修複層。通過選晶法不依賴單晶種子增材製造單晶是當前的難點,有望實現單晶零件的增材製造直接製備。
本文亮點
本文利用電子束選區熔化工藝,在不鏽鋼基板上增材製造製備當前最大尺寸IN738合金單晶體(ti) 。
圖文解析
如圖1a所示,成形采用蛇行掃描的方式,完成上一層後,下一層掃描方向旋轉90度。EBSM製備單晶過程如圖1b-g所示。從(cong) 圖1b-g中可以看出,在特定的掃描速度區間,15 mm(S1)、20 mm(S2)兩(liang) 個(ge) 試樣寬度的單晶製備效果均較好。當掃描速度大於(yu) 或小於(yu) 特定區間,成形單晶效果均不佳。在S1樣品中,單晶棒的寬度為(wei) 11 mm,在S2樣品中單晶棒的寬度14 mm,邊緣和外部區域為(wei) 雜晶。

圖1 成形掃描策略與(yu) EBSM製備IN738合金單晶組織表征: (a) 掃描策略; (b) S1, v=3 m/s; (c) S1,v=2 m/s; (d) S1, v =1 m/s; (e) S1, v= 0.6 m/s; (f) S2, v=0.8 m/s; (g) S2, v=0.7 m/s
綜上可知,EBSM製備IN738合金單晶組織的關(guan) 鍵參數是掃描速度,且單晶生長的工藝窗口很窄,這是因為(wei) 改變參數,熔池溫度梯度的方向隨之改變。溫度梯度和凝固速度的大小和方向僅(jin) 在特定工藝窗口內(nei) 促進單晶生長。
為(wei) 確認EBSM製備IN738合金單晶結構,在圖1f的兩(liang) 個(ge) 標識區域進行了EBSD觀察。區域1中的單晶組織如圖2所示。圖2a-c清析地顯示了單晶的存在。圖2d中顯示的球坐標投影進一步證實了單晶的存在。區域1的單晶寬度大於(yu) 14 mm。

圖2 單晶EBSD表征: (a) IPF-X, (b) IPF-Y, (c) IPF-Z, (d) 極圖
為(wei) 了解晶粒選擇的過程和機製,在多晶區和單晶區之間的過渡區2進行了EBSD測量,結果如圖3所示。從(cong) 圖3a-c可以看出,在試樣下部,柱狀晶粒較多,織構較強,而上部僅(jin) 存在單一晶粒。在由下部諸多柱狀晶粒向上部單晶過渡的過程中,存在晶粒取向的選擇。晶粒選擇的過程可以分為(wei) 幾個(ge) 階段。首先,在最初的幾層中,多晶不鏽鋼底板上各種取向的晶粒廣泛共存,外延生長的晶粒取向差較大;在沿成形方向的溫度梯度作用下,柱狀晶沿FCC金屬優(you) 勢生長方向[001]定向生長;進一步,這些柱狀晶開始在成形過程中競爭(zheng) 生長,隨著成形高度進一步增加,越來越多與(yu) 溫度方向不接近的晶粒因失去生長空間而被取代,直到最終單一晶粒被選擇出來。從(cong) 7.5 mm高度開始,取向偏差大於(yu) 15度的晶粒被優(you) 勢晶粒取代(圖3d),進一步,取向偏差大於(yu) 2度的晶粒在14.5 mm高度處被優(you) 勢晶粒取代(圖3e)。最後,[001]方向晶粒取代所有其他晶粒方向,在上部出現單晶。這一選晶過程是一個(ge) 動態的過程,存在於(yu) 成形全過程,而鑄造螺旋選晶隻在最初有選晶過程,之後不再對晶粒選擇。

圖3 區域2的EBSD表征: (a) IPF-X,(b) IPF-Y,(c) IPF-Z,(d) 15°晶界IPF-Z,(e) 2°晶界IPF-Z
鑄造單晶的枝晶寬度通常約為(wei) 200-400 μm。EBSM製備IN738合金單晶的枝晶組織表征如圖4所示。從(cong) 圖4a-b可以看出,通過實驗測量,一次枝晶臂間距(PDAS)為(wei) 15 μm左右。高倍率下的顯微結構圖像如圖4c-d所示,從(cong) 圖中可以清楚地觀察到析出相γ'和沿枝晶邊界析出的碳化物。γ'相析出比例較高,碳化物沿晶界排列。

圖4 枝晶組織表征: (a) 圖1e枝晶光鏡圖-15 μm,(b) 圖1h枝晶光鏡圖-15 μm,(c) 圖1e電鏡圖,(d) 圖1e高倍電鏡圖
總結與(yu) 展望
通過對成形參數的控製,首次製備出15 mm、20 mm不同試樣寬度的IN738單晶體(ti) 。EBSM製備IN738合金單晶枝晶組織約為(wei) 15 μm,遠小於(yu) 鑄造IN738合金,組織偏析均勻,強化相析出比例高。但對於(yu) EBSM製備難焊鎳基高溫合金單晶的製備,當前還在試樣級別,需要進一步驗證選晶理論,成熟製備難焊鎳基高溫合金單晶組織,包括內(nei) 流道零件和複雜橫截麵零件,以達到增材製造難焊鎳基高溫合金單晶葉片的目的。
作者簡介
轉載請注明出處。







相關文章
熱門資訊
精彩導讀



















關注我們

