Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可以幫助我們(men) 回答這個(ge) 問題。

光學薄膜中的公差評定是個(ge) 實際問題。沒有一個(ge) 好的、通用的分析技術。Essential Macleod裏的一個(ge) 簡單工具－Errors, 假定所有膜層中的厚度誤差都是隨機的，能夠顯示在許多薄膜中獨立控製命令不可能精確，而用其它的方法確實能夠構造這些薄膜。實事上，公差和誤差的影響很大程度上依賴於(yu) 控製技術。通過將誤差的Monte Carlo近似擴展到控製過程的實際模型中去，Simulator解決(jue) 了公差問題。

使用由Runsheet創建的控製設計, Simulator模擬沉積的控製，同時引入隨機和係統效應，如信號中的噪聲，加工因素的不同，材料密度誤差等等，並且顯示這些參數對最後模擬的薄膜產(chan) 品的影響。

Simulator比簡單的監控問題回答得更多。所有與(yu) 薄膜係統有關(guan) 的其它的參數都可以轉換成檢查模擬和它們(men) 影響的參數。Simulator的結果顯示，在沒有改變係統中噪聲或精度時，某一膜層的監控過程中的一個(ge) 小小改變，對DWDM應用的多腔分束器的設計中，能否引起實質性的改進。

注：要Simulator操作正確，Runsheet提高必須也存在。