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光學設計軟件

OPTIPRO光譜測量係統

星之球激光 來源:訊技科技2011-08-23 我要評論(0 )   

OPTIPRO是一個(ge) 功能強大的用於(yu) 光學參數測定的光譜測量係統,可測量Mueller矩陣。它是包括光源和筆記本電腦的簡易而緊湊的係統,便攜易用。而且可與(yu) LCD MASTER配合工作,...

OPTIPRO是一個(ge) 功能強大的用於(yu) 光學參數測定的光譜測量係統,可測量Mueller矩陣。它是包括光源和筆記本電腦的簡易而緊湊的係統,便攜易用。而且可與(yu) LCD MASTER配合工作,使測量數據轉移到LCD模擬和仿真軟件“LCD MASTER”中來研究整個(ge) 光學係統的性能。此外,它的分析速度非常快,分析儀(yi) 的測量時間小於(yu) 30毫秒;操作的靈活性強,係統配置可以簡單地改變或增加必要的零件,從(cong) 而以最小的投入而使其功能得以很好地擴展。

主要特色:

•高速——分析儀(yi) 的測量時間小於(yu) 30毫秒

•靈活性——獨立的光源,偏光片,樣品台和分析儀(yi) ,係統配置可以簡單地改變或增加必要的零件,該功能可以以最小的投入而被擴展。

•與(yu) LCD MASTER 集成——測量數據可以轉移到我們(men) 的LCD模擬和仿真軟件“LCD MASTER”來研究整個(ge) 光學係統的性能,包括正在測試的樣品。

基本規格:

 

Retardation(Δnd)

光軸方向

測量分辨率

0.01(nm)

0.01(deg)

可重複性

3σ<0.05(nm)

3σ<0.05(deg)

測量時間

30(msec)

測量參數:

Retardation(Δnd)
•光軸方位
•偏振轉換特征(Stokes參數)
•LC 單元的預傾(qing) 斜和扭轉角
以及:
•XY工作台的二維分布
•θ-Φ工作台的角度分布
•溫度控製平台

OPTIPRO的應用:
•光學薄膜分析:開發,品質認證(QC)
•LC透鏡
•WV或NLC專(zhuan) 用薄膜分析
•圖像配置層的開發
•LC元參數分析: TN, VA, IPS, OCB, ECB等
•多區域LC單元分析,PSVA或Photo配置:Pre-tilt, cell gap, twist angle, rubbing direction angle.
•生物材料開發:旋光(Optical rotation)


 
測量原理:
•分析儀(yi) 旋轉方法




OPTIPRO種類:

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