通過改進電子斷層成像技術,苗建偉(wei) 和同事能夠對任何納米粒子進行成像。

跟美國加州大學洛杉磯分校的物理學家苗建偉(wei) 相比,電影中超人的身手似乎要遜色一點,至少在成像方麵是這樣。
苗建偉(wei) 和他的同事,開發出一種以前所未有的精確度、可對任何類型的納米粒子進行成像的方法。
在右圖中,一種被稱為(wei) 電子斷層成像技術的方法展現了一個(ge) 由3871個(ge) 原子組成的金納米粒子。
在納米粒子內(nei) 部,研究人員能夠輕而易舉(ju) 地分辨出多種“顆粒”。每個(ge) 顆粒內(nei) 的原子都擁有相同的排列,且鄰近顆粒間相互偏離。此方法還成功地辨認出很多,雖然不是全部,分布於(yu) 納米粒子內(nei) 的單個(ge) 原子。
就像對納米粒子做了一個(ge) CT掃描,電子斷層成像技術通過在每次成像後輕微旋轉照相機和探測器,抓拍到了一個(ge) 物體(ti) 的多張快照。然後,運用電腦算法將圖像整合起來,形成一張合成圖片。
此前的電子斷層成像技術已成功地使粒子每個(ge) 側(ce) 麵的圖像分辨力達到一立方納米,但它隻能將所有原子位於(yu) 一個(ge) 嚴(yan) 格的晶格中的粒子進行成像,對單獨的顆粒或明確的定向根本沒有辦法。
苗建偉(wei) 和同事在本周的《自然》雜誌上報道稱,通過改進圖像采集方法,他們(men) 能夠對任何納米粒子進行成像,盡管他們(men) 得出的整體(ti) 分辨力要比之前的記錄稍差些。
不過,可惜的是至今還未有任何關(guan) 於(yu) 苗建偉(wei) 像超人那樣,輕輕一躍就能跳過高樓大廈的報道。
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