PConline 資訊]據外媒報道稱，東(dong) 北大學（Tohoku University）的研究人員近日開發出一種利用空心球來測量大型半導體(ti) 晶體(ti) 的電子和光學特性的技術。根據東(dong) 北大學研究人員的說法，他們(men) 的方法改進了現有的光致發光光譜技術，可以為(wei) 大規模生產(chan) 者和電力設備的消費者帶來節能。

據介紹，半導體(ti) 晶體(ti) 用於(yu) 製造電子器件，如微處理器芯片和晶體(ti) 管。製造商需要能夠檢測晶體(ti) 缺陷並測試其能量轉換效率其中一種方法是測量它們(men) 的“內(nei) 部量子效率”，即它們(men) 從(cong) 被電流或激發激光激發的電子中產(chan) 生光子的能力。目前可用的方法都限製了可以一次測試的樣本量。

東(dong) 北大學的先進材料科學家Kazunobu Kojima及其同事設計了一種改進的光致發光光譜方法，可以測試更大的樣品。

當激發激光照射在半導體(ti) 晶體(ti) 上時，標準光致發光光譜檢測半導體(ti) 晶體(ti) 發出的光的相對量。光能通過這些激發和發射過程而消失，因此科學家們(men) 一直在試驗光致發光光譜，它使用“積分球”來最小化光子（光的基本粒子）的損失。

積分球收集激發光和從(cong) 其內(nei) 部的樣品發出的光，其中光在內(nei) 部漫反射直到它變得均勻分散。光的均勻分布提高了內(nei) 部量子效率測試的準確性和可重複性。但這意味著被測晶體(ti) 的尺寸最終受到球體(ti) 尺寸的限製。

Kojima及其同事發現，當晶體(ti) 直接放置在球體(ti) 外時，它們(men) 仍然可以測試晶體(ti) 的內(nei) 部量子效率，從(cong) 而允許使用更大的樣品。他們(men) 對稱為(wei) 氮化镓的半導體(ti) 晶體(ti) 進行了測試，這種晶體(ti) 通常用於(yu) LED，由於(yu) 其優(you) 越的性能，將用於(yu) 電子器件。

Kojima說：“這種'omnidirectional photoluminescence'光譜儀(yi) 可用於(yu) 評估大尺寸晶體(ti) 或半導體(ti) 晶圓的質量，這對於(yu) 功率器件的大規模生產(chan) 至關(guan) 重要，可以帶來節能並降低生產(chan) 成本。”

via：Newelectronics PConline編譯作者：栗子