BeamMaster刀口式光束質量分析儀(yi)
可采樣、測量和顯示激光的截麵形狀、2D和3D能量分布，采樣和刷新率最高5Hz

• 連續激光光束形狀，功率和位置測量
• 可接受的光束直徑從3 μm 到 9 mm，分辨率0.1 μm，動態範圍寬
• 實時顯示、分析和數據存儲係統
• 可響應的波長範圍從190 nm 到1800 nm

BeamMaster™ 是高精度的多刀口掃描光束質量分析係統，可采樣、測量和顯示激光的截麵形狀、

2D和3D能量分布、質心位置、橢圓度和主次軸角度、相對功率、以及通過設定參數和偏差範圍實現

在線篩選等功能，采樣和刷新率最高5Hz，亦可平均1-20個(ge) 采樣數據得到噪聲平均值和最大的測量精度。

數據可以通過RS-232接口獲取和存儲(chu) ，屏幕上的圖象可以被捕獲和輸出至打印機。

BeamMaster係統可以測量小的光束，甚或是聚焦以後的光束，最小可測量的光束直徑是3μm，分辨率

可達0.1 μm；也可以測量大光斑，最大可測量的光束直徑是9 mm，分辨率1 μm。可響應的波長範圍是

190-1100 nm (Si-增強探元)，或者800-1800 nm (InGaAs探元)。

最小可測量的激光功率為(wei) 10 μW，使用Si探元的係統內(nei) 還內(nei) 置了零畸變的衰減片並可自動調整衰減倍數。

光束的輪廓和尺寸

輥輪的每次旋轉， 7個(ge) 刀口分別以不同方向掃描整個(ge) 光束（BM-3中采用3個(ge) 刀口），得到的數據經過

BeamMaster獲取並處理後作為(wei) 有關(guan) 光束功率，位置和形狀的信息。每次旋轉得到的信息由帶狀記錄紙記錄，

發送到文件或RS-232端口。

光斑在正交方向上的強度分布可以顯示出來，光束的寬度也數字顯示出來。高斯擬合的光斑能夠被任何以選

的測量光斑包括，擬合和相關(guan) 參數也顯示出來。

為(wei) 了盡可能多地獲取光束的詳細信息，係統自動識別光斑中心，約放大3倍後顯示，

同時光斑強度數據自動換檔方便顯示。

更多的信息可以通過特別高分辨模式得到。這對於(yu) 分析光斑遠離高斯分布或小於(yu) 100µm的光束是非常有用的。

光束質心位置和橢圓度及主次軸角度

可以顯示光束的質心位置相對於(yu) 傳(chuan) 感麵積中心位置，光斑的相狀，橢圓度（主次軸）和主次軸角度。

還具有放大功能，用戶可以選擇帶狀記錄紙的監測短期或長期的穩定性或漂移隨時間的變化關(guan) 係。


功率測量

光束功率可以數字或者模擬指針形式顯示。單位可以選擇µW, mW 或者dBm, 用戶可以歸零和對功率

範圍內(nei) 的任何部分進行放大。有衰減器（濾波片）和測試範圍可供選擇，在監視器上進行顯示，還有可選的聲音報警。

數據采集和自動判別

光斑尺寸，質心位置，相對功率連續地顯示在模擬，數字和帶狀記錄紙的計算機屏幕上，也可以實時生

成數據文件日誌，方便以後的處理或測試報告的生成。通過/錯誤測試

用RS-232連接，文件可以傳(chuan) 送到其他電腦，或者數據實時傳(chuan) 送。另外，屏幕上的所有圖像圖像都能被

捕獲並以BMP或JPG文件保存或傳(chuan) 送到Windows打印機進行打印。