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半導體/PCB

優化測試單元產能:Multitest的MT2168充分利用先進測試儀性能

激光製造商情 來源:廣東(dong) 星之球2011-08-08 我要評論(0 )   

2011 年 6 月 ---- 麵向集成設備製造商( IDM )和最終測試分包商,設計和製造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商 Multitest 公司,日前欣然宣布其 MT2168 的設...

20116----麵向集成設備製造商(IDM)和最終測試分包商,設計和製造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其MT2168的設計旨在實現最佳測試儀(yi) 利用率。短Index時間(DUT交換時間)、快速上料與(yu) 分類以及超大器件預熱能力均支持分選機與(yu) 新一代測試儀(yi) 保持同步。

 


 

理想情況下,如果分選機沒有局限性,增強的測試儀(yi) 性能從(cong) 兩(liang) 方麵優(you) 化了測試單元產(chan) 能:它們(men) 得益於(yu) 更短測試時間和更高測試並行性的應用。

目前很多先進的分選機不能支持增強的測試儀(yi) 性能,即使它們(men) 擁有多個(ge) 相應的測試位亦是如此。因此,潛在的產(chan) 能優(you) 勢受到最高分選機產(chan) 能的限製。最高分選機產(chan) 能取決(jue) 於(yu) 上料、預熱和分類速度。

增加測試位的數量(並行性)將直接與(yu) 能夠同時測試更多器件的增強的測試儀(yi) 能力相呼應。隻有在未達到分選機的上料和分類能力上限的情況下,才能增加並行性。否則,這將被更長的上料和分類時間抵消。在任何情況下,分選速度均需改善,以便受益於(yu) 更短測試時間。對於(yu) 所需的預熱能力來說亦是如此,目的是為(wei) 了充分利用更高並行性和更短測試時間的優(you) 勢。

MT2168的設計旨在充分利用測試儀(yi) 的性能。該新一代測試分選機不僅(jin) 針對單個(ge) 參數(並行性和速度)進行優(you) 化,其內(nei) 部的測試位數量、上料、預熱及分類能力等方麵也得到同步改善。

Multitest (總部位於(yu) 德國羅森漢姆)是麵向半導體(ti) 廠商提供測試分選設備的世界領導製造商之一。Multitest銷售測試分選機、測試座和ATE印刷電路板。公司在全球擁有700多名員工,在北美、新加坡、馬來西亞(ya) 、菲律賓、中國大陸、台灣地區、泰國設有辦公室和分支機構,為(wei) 世界各地的客戶提供服務。#p#分頁標題#e# 

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