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半導體/PCB

Multitest推出elvin測試座綜合教程

邵火 來源:星之球科技2012-03-29 我要評論(0 )   

2012年3月---為(wei) 全球(集成元件製造商(IDM)和最終測試分包商,提供設計和製造最終測試分選機、測試座和負載板的領先廠商Multitest公司,現宣布推出Kelvin教程。 若要低...

    2012年3月---為(wei) 全球(集成元件製造商(IDM)和最終測試分包商,提供設計和製造最終測試分選機、測試座和負載板的領先廠商Multitest公司,現宣布推出Kelvin教程。 若要低成本測試其測量值相對於(yu) 接觸電阻值很敏感的元件,Kelvin測試座是不可或缺的。真正的Kelvin測試座完全消除了直流電參數測試的接觸電阻誤差。

    將這種卓越的電氣解決(jue) 方案應用於(yu) 集成電路測試是一個(ge) 機械挑戰。需要和兩(liang) 個(ge) 電氣絕緣且機械結構獨立的探針相連接的測試點是微小並緊密排列的(並且正變得更小更緊密)。Kelvin接觸的成本最初是較高的。如果部署Kelvin測試座,大批量生產(chan) 測試的成本將顯著降低。

    市場上現有多款Kelvin測試座,它們(men) 來自不同供應商並采用不同技術。應當仔細甄別。

    Multitest的Kelvin教程對何為(wei) Kelvin連接方式以及何時需要Kelvin接觸方式進行了說明。此外,該教程還提供一些實用建議和示例。

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