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半導體/PCB

使用NI軟硬件開發完整的生產測試解決方案

星之球激光 來源:21ic2012-11-20 我要評論(0 )   

挑戰: 為(wei) 丹佛斯太陽能逆變器產(chan) 品和印刷電路板(PCB)開發一個(ge) 靈活的生產(chan) 測試解決(jue) 方案,以便在全球範圍內(nei) 更好地通過合同的方式進行生產(chan) 。 解決(jue) 方案: 結合NI PXI與(yu) PCI硬件,...

 

挑戰:

 

  為(wei) 丹佛斯太陽能逆變器產(chan) 品和印刷電路板(PCB)開發一個(ge) 靈活的生產(chan) 測試解決(jue) 方案,以便在全球範圍內(nei) 更好地通過合同的方式進行生產(chan) 。

 

  解決(jue) 方案:

 

  結合NI PXI與(yu) PCI硬件,使用NI TestStand和LabVIEW軟件來開發一個(ge) 用於(yu) 測試印刷電路板和太陽能逆變器的標準測試係統。

 

 

丹佛斯太陽能逆變器測試係統的操作界麵

 

  "通過使用全部來自NaTIonal Instruments的開發工具,我們(men) 開發了一套個(ge) 完整的解決(jue) 方案,涵蓋從(cong) 印刷電路板測試到最終產(chan) 品包裝站的全部測試需要。"

 

  用於(yu) 快速增長的太陽能市場的逆變器

 

  丹佛斯太陽能逆變器開發和製造並網逆變器,將太陽能電池板產(chan) 生的直流電轉換成交流電。我們(men) 也有用於(yu) 監測太陽能能源係統的產(chan) 品,以實現最優(you) 的能量輸出和投資回報率。

 

  我們(men) 的業(ye) 務集中在快速增長的歐洲太陽能市場。由於(yu) 業(ye) 務迅速增長,我們(men) 的目標是設計生產(chan) 流程,以滿足日益增加的生產(chan) 量要求。我們(men) 所要關(guan) 注的關(guan) 鍵領域之一,就是我們(men) 的測試環境。

 

  尋找一個(ge) 靈活的並得到廣泛支持的測試係統

 

  我們(men) 以往的生產(chan) 和PCB測試係統是基於(yu) 一個(ge) 專(zhuan) 有的測試引擎,它不支持在國際範圍內(nei) 擴大我們(men) 的製造業(ye) 務。我們(men) 尋求一個(ge) 可以廣泛使用的測試環境,包括國際支持和服務,因為(wei) 我們(men) 希望避免由零部件數量和服務有限而造成代價(jia) 高昂的生產(chan) 中斷。此外,我們(men) 設定了一個(ge) 目標以開發一套測試架構,讓我們(men) 可以測試任何類型的逆變器。

 

  在分析了市麵上現有的測試軟件和硬件平台之後,我們(men) 決(jue) 定在NI TestStand和LabVIEW軟件環境下實現我們(men) 生產(chan) 測試平台的規範化。這些滿足行業(ye) 標準的測試軟件工具,為(wei) 我們(men) 提供了在本地和全球範圍外包測試開發和服務時所需的靈活性和能力。

 

  對於(yu) 儀(yi) 器,我們(men) 使用基於(yu) PXI和PCI係統的NI數據采集(DAQ)和總線接口模塊。該解決(jue) 方案在需要擴展係統時非常簡便,隻需最低程度的改動。如果我們(men) 需要一個(ge) 新的測試儀(yi) 器,隻要添加一個(ge) 新的模塊即可,而無需增加係統的尺寸。

 

  與(yu) National Instruments聯盟夥(huo) 伴一起設計測試係統

 

  為(wei) 了設計係統的架構和開發整個(ge) 環境,我們(men) 與(yu) NI聯盟夥(huo) 伴CIM工業(ye) 係統A / S公司協同工作。這家公司是領先的技術合作夥(huo) 伴,擁有超過10年基於(yu) NI TestStand測試測量解決(jue) 方案的開發經驗。其測試開發能力和對我們(men) 投資的回報提供了一個(ge) 非常好的解決(jue) 方案。

 

  對於(yu) 我們(men) 的測試解決(jue) 方案,CIM設計了大量自定義(yi) 的NI TestStand步驟類型,使它很容易就能夠添加新的測試。CIM也為(wei) 我們(men) 定製了NI TestStand的過程模型,包括為(wei) 所有儀(yi) 器設計的自定義(yi) 步驟類型,和自定義(yi) 的錯誤處理。該公司還增加了一個(ge) Web服務接口來檢索我們(men) 公司的Axapta ERP係統的數據指定的測試範圍。

 

  兩(liang) 套硬件安裝

 

  我們(men) 有兩(liang) 套不同的硬件配置,一個(ge) 用於(yu) PCB測試,另一個(ge) 用於(yu) 逆變器的最終測試。PCB測試儀(yi) 是建立在NI PXI-1044 14槽機箱的基礎上。我們(men) 使用NI PXI-6704模擬輸出模塊,作為(wei) 被測設備(DUT)的激勵輸入,使用一塊NI PXI-6229多功能數據采集(DAQ)設備測量模擬響應。我們(men) 也使用NI PXI-8433/2和PXI-8432 / 2 用於(yu) 與(yu) 被測模塊進行RS485和RS232通訊。兩(liang) 個(ge) 開關(guan) 模塊,NI PXI-2566和PXI-2503,在係統中用於(yu) 信號路由,而NI USB-8451模塊用於(yu) 測試DUT的I ² C連接。

 

  在最終測試係統中,我們(men) 使用PXI-6229PCI版本的數據采集模塊來測量溫度、電壓和電流信號。該模塊的數字通道用於(yu) 控製門鎖繼電器和讀回門傳(chuan) 感器的信息。此外,數字輸出也可以控製將直流電源和電網連接到待測逆變器的繼電器。該模塊的模擬輸出通道用於(yu) 提供DUT所需的電壓和電流信號,並控製直流電源的輸出電壓和電流範圍。此測試階段還需要一些RS485通訊,因此,我們(men) 使用了PXI-8433/2模塊。

 

  測試係統標準化項目的成果

 

  除了PCB和最終測試係統,我們(men) 在我們(men) 的標簽和包裝站也使用了NI TestStand與(yu) LabVIEW。通過使用全部來自於(yu) NI的開發工具,我們(men) 開發了一個(ge) 完整的解決(jue) 方案,涵蓋從(cong) PCB到最終產(chan) 品包裝站的測試需要。今天,雖然對NI TestStand與(yu) LabVIEW的了解有限,但我們(men) 擁有了一套靈活的測試係統,在其中我們(men) 可以為(wei) 我們(men) 的所有產(chan) 品創建和編輯測試序列。

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