一、散粒噪聲
散粒噪聲一般存在於(yu) 真空管中或半導體(ti) 內(nei) ,當電壓超越必定的臨(lin) 界值而電流流出出現散亂(luan) 的形狀,此一表象由 shottky 解釋為(wei) 散彈的作用 (shot effect) 。
二、熱噪聲
熱噪聲是由 J.B.Johnson 所發現的,因而又常稱為(wei) Johnson noise,熱噪聲所發生電壓降之均勻平方值與(yu) 波茲(zi) 曼常數、絕對溫度、呼應的頻率、以及組件之阻抗值(一般為(wei) 頻率之函數)有關(guan) 。
三、觸摸噪聲
觸摸噪聲是指組件由不完全觸摸而發生電阻之改變量,在一些自動組件中也常稱為(wei) 閃耀噪聲(flicker noise) 。此噪聲之電功率密度常與(yu) 頻率成反比率。
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