PI獨特的並行梯度搜索技術

該算法以對準係統微米級甚至納米級的探索性運動為(wei) 基礎，可測量品質因數的局部梯度，例如相機鏡頭係統的圖像質量或激光器的輸出功率。然後自動遵循該梯度，直至達到所需的元件位置和方向。該程序提供出色的跟蹤功能，因此可以補償(chang) 任何漂移效應。PI獨特的方法可以使多個(ge) 梯度搜索程序並行進行。這意味著可以同步進行多個(ge) 元件、自由度、通道等的優(you) 化。這一開創性功能可以將整體(ti) 優(you) 化時間縮短兩(liang) 個(ge) 或更多個(ge) 數量級。

梯度搜索可以在不到1秒的時間內(nei) 找到信號最大值。

同時調整多個(ge) 單一元件

在複雜的光學係統中對準單個(ge) 透鏡元件是一項具有挑戰性且耗時的任務。然而，借助於(yu) PI獨特的內(nei) 置於(yu) 控製器固件中的算法以及同樣獨特的機械調整單元，可在單一操作中並行對準多個(ge) 透鏡。

PI –自動多通道光纖陣列對準

將光纖（單模或多模光纖）連接到矽光子器件(SiP)仍然是這些器件的測試與(yu) 封裝中具挑戰性和複雜性的任務之一。

基於(yu) 其獨特的“快速多通道光子學對準”係統，PI成功開發了一種用於(yu) 晶圓探測的高吞吐量自動化子係統。該視頻現在展示了實現芯片級測試和封裝自動化的方法。

SiP生產(chan) 快速光學校準

PI快速矽光對準FMPA技術可用於(yu) 大多數的工序優(you) 化

· 激光腔調節

· 攝像頭組裝

· 無人駕駛的激光傳(chuan) 感器

· 光纜

· 矽光子 (SiP)

-芯片檢測

-芯片封裝

· 量子計算