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激光檢測

紅外熱像儀在LED檢測中的應用

星之球激光 來源:中國工控網2012-03-10 我要評論(0 )   

LED 作為(wei) 取代傳(chuan) 統照明工具(如白熾燈、鹵素燈等)的新型光源,其散熱效果嚴(yan) 重影響LED的實際使用壽命,散熱工藝成為(wei) LED應用和發展的關(guan) 鍵因素, 紅外熱像儀(yi) 可以進行LED溫...

   LED作為(wei) 取代傳(chuan) 統照明工具(如白熾燈、鹵素燈等)的新型光源,其散熱效果嚴(yan) 重影響LED的實際使用壽命,散熱工藝成為(wei) LED應用和發展的關(guan) 鍵因素,紅外熱像儀(yi) 可以進行LED溫度檢測,幫助驗證散熱工藝。

  事實上,LED的實際壽命與(yu) 工作溫度往往成反比,如LED使用壽命在工作溫度為(wei) 74℃為(wei) 10000小時、63℃為(wei) 25000小時,小於(yu) 50℃時,則可為(wei) 50000小時。根本原因是LED的光電轉換效率極差,大約隻有15%至20%左右電能轉為(wei) 光輸出,其餘(yu) 均轉換成為(wei) 熱能,因此,當大量使用高功率的LED於(yu) 一塊模組,應用於(yu) 高亮度的操作時,這些極差的轉換效率將造成散熱處理的大問題。

  熱像儀(yi) 不僅(jin) 在研發過程中能夠發揮作用,而且也可以應用在產(chan) 品的品質管理等方麵。

  1、研發:主要是對LED模塊驅動電路(包括電源)、光源半導體(ti) 發熱分布分析、及光衰測試等。

  a)LED模塊驅動電路

  在LED產(chan) 品研發中,需要工程師進行一部分驅動電路設計,例如整流器電路模塊。利用熱像儀(yi) ,工程師可以迅速而便捷地發現電路上溫度異常之處,便於(yu) 完善電路設計。

  b)LED光源半導體(ti) 芯片發熱

  利用熱像儀(yi) ,工程師可以通過光源半導體(ti) 芯片發熱紅外熱圖,分析出其芯片在工作時的溫度,以及溫度的分布情況,在此基礎,達到提高LED產(chan) 品壽命的目的。

  c)光衰試驗

  LED產(chan) 品的光衰就是光在傳(chuan) 輸中的信號減弱,而現階段全球的LED大廠們(men) 做出的LED產(chan) 品光衰程度都不相同,大功率LED同樣存在光衰,這和溫度有著直接的關(guan) 係,主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決(jue) 定的。目前,市場上的白光LED其光衰可能是向民用照明進軍(jun) 的首要問題之一。

  2、品質管理#p#分頁標題#e#

  a)半導體(ti) 照明:吹製燈泡均勻性

  通過熱像儀(yi) 抓拍產(chan) 線玻璃吹泡的過程,進行參數修正,改善掐口工藝,可以有效提高產(chan) 品成品率,降低成本。

  b)LED檢測芯片封裝前的溫度

  LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝後因溫度異常,降低廢品率。此階段手不能接觸表麵,熱像儀(yi) 能夠很好的幫助客戶發現此處的問題,作為(wei) 流水線檢測工具。

  c)LED成品顯示屏開機測試

  LED顯示屏完成後,要做最後驗收,通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求,目前大多數企業(ye) 都沒有這個(ge) 流程。使用熱像儀(yi) 後,能夠為(wei) 廠家完善產(chan) 品檢測標準,提高產(chan) 品質量。

  紅外熱像儀(yi) 的獨特作用

  在使用熱像儀(yi) 前,LED產(chan) 品企業(ye) 一直都沒有很好的解決(jue) 這個(ge) 問題手段或方法。熱像儀(yi) 能夠發揮獨特作用:

  1、通過紅外線熱像儀(yi) 檢測目標時,不需要斷電,操作方便,同時非接觸測量使原有的溫度場不受幹擾;反應速度較快,小於(yu) 1毫秒。

  2、第一時間識別和定位故

  使用熱像儀(yi) 進行拍攝時,若要得到一幅優(you) 秀的紅外熱圖,我們(men) 建議:

  1、需要分辨較小溫差的場合,盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀(yi) ;

  2、先用自動模式測量溫度範圍;然後手動設置水平及跨度,將溫度範圍設置在最小,並包含有先前測量的溫度範圍。#p#分頁標題#e#

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